通过美利体育登录入口官网俄歇效应产生的特征电子来研究样品组成和结构的表面分析技术,广泛应用于材料科学和表面化学研究领域。
| 标准号 & 类别 | 标准名称 | 发布 |
|---|---|---|
| AS ISO 18115:2006 术语 |
Surface chemical analysis - Vocabulary
表面化学分析 |
2006-1-1 澳大利亚标准协会 |
| AS ISO 18118:2006 指南标准 |
表面化学分析.俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法.均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2006-1-1 澳大利亚标准协会 |
| ASTM E1016-07(2012)e1 Guide |
Standard Guide for Literature Describing Properties of Electrostatic Electron Spectrometers
X射线光电子能谱 |
2007 美国材料与试验协会 |
| ASTM E1127-03 Guide |
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
深度剖析 |
2003 美国材料与试验协会 |
| ASTM E1127-08(2015) Guide |
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
深度剖析 |
2008 美国材料与试验协会 |
| ASTM E983-10 Guide |
Standard Guide for Minimizing Unwanted Electron Beam Effects in Auger Electron Spectroscopy
|
2010 美国材料与试验协会 |
| ASTM E984-12 Guide |
Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron Spectroscopy
基质效应 |
2012 美国材料与试验协会 |
| ASTM E995-04 Guide |
Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
|
2004-01-01 美国材料与试验协会 |
| ASTM E995-11 Guide |
在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南 Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
X射线光电子能谱 |
2011 美国材料与试验协会 |
| ASTM E995-25 指南标准 |
Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
X射线光电子能谱 |
2025-04-01 美国材料与试验协会 |
| ASTM E996-10 Practice |
Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
X射线光电子能谱 |
2010 美国材料与试验协会 |
| BS ISO 16242:2011 规程标准 |
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
表面化学分析 |
2011-12-31 英国标准学会 |
| BS ISO 18118:2015 指南标准 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南 Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2015-04-30 英国标准学会 |
| BS ISO 18118:2024 指南标准 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南 Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2024-03-31 英国标准学会 |
| BS ISO 18516:2006(2010) 试验标准 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定 Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X - ray photoelectron spectroscopy — Determination of lateral resolution
X射线光电子能谱 |
2010 英国标准学会 |
| BS ISO 20903:2019 试验标准 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息 Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
X射线光电子能谱 |
2019-02-28 英国标准学会 |
| BS ISO 29081:2010 规范标准 |
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
|
2010-02-28 英国标准学会 |
| DIN ISO 16242 E:2019-10 试验标准 |
Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
定量分析 |
2019-10 德国标准化学会 |
| DIN ISO 16242:2020 试验标准 |
表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)中的数据记录和报告(ISO 16242:2011);英文文本 Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) (ISO 16242:2011); Text in English
定量分析 |
2020-05-01 德国标准化学会 |
| DIN ISO 16242:2020-05 试验标准 |
Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) (ISO 16242:2011); Text in English
|
2020-05 德国标准化学会 |
| DIN ISO 18115-1 E:2016-09 术语标准 |
Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
X射线光电子能谱 二次离子质谱 |
2016-09 德国标准化学会 |
| DIN ISO 18115-1:2017-07 术语 |
Surface chemical analysis – Vocabulary – Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
二次离子质谱 |
2017-07-01 德国标准化学会 |
| GB/T 20175-2006 规范 |
Surface chemical analysis.Sputter depth profiling.Optimization using layered systems as reference materials
|
2006-03-27 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 29558-2013 试验 |
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy.Repeatability and constancy of intensity scale
|
2013-07-19 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 29731-2013 试验 |
表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 Surface chemical analysis.High-resolution Auger electron spectrometers.Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
不确定度 |
2013-09-18 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 30702-2014 规范 |
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2014-06-09 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 30815-2014 规范/指南 |
Surface chemical analysis.Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
X射线光电子能谱 二次离子质谱 |
2014-06-24 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 31470-2015 试验方法标准 |
俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定美利体育登录入口官网信号对应样品区域的通则 Standard practice for determination of the specimen area contributing to the detected signal in Auger electron spectrometers and some X-ray photoelectron spectrometers
|
2015-05-15 国家市场监督管理总局 |
| GB/T 36533-2018 试验/规范 |
Determination of the chemical state of micro-iron in silicate—Auger electron spectroscopy
硅酸盐 |
2018-07-13 国家市场监督管理总局 |
| GSO ISO 18118:2025 |
表面化学分析 电子能谱和X射线光电子能谱 使用指南 用于实验确定均匀材料定量分析的相对灵敏度因子... Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2025 海湾阿拉伯国家合作委员会标准组织 |
| ISO 16242:2011 规程标准 |
Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
定量分析 |
2011-12 国际标准化组织 |
| ISO 18118:2004 指南标准 |
表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
X射线光电子能谱 相对灵敏度因子 |
2004-05 国际标准化组织 |
| ISO 18516:2006 试验 |
表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution
X射线光电子能谱 |
2006-11 国际标准化组织 |
| ISO 29081:2010 规范 |
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
|
2010-02 国际标准化组织 |
| ISO/TR 18394:2016 指南标准 |
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Derivation of chemical information
|
2016-05-01 国际标准化组织 |
| JY/T 013-1996 试验 |
General Rules for Electron Spectrometer Methods
|
1996-1-1 行业标准-教育 |
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