| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 电子显微镜法 electron microscope method | 通过电子显微镜观察测试样本的图像,测量金属颗粒的每个颗粒尺寸并进行统计处理,以获得平均颗粒尺寸和颗粒尺寸分布的方法。 |
| X射线衍射法 X-ray diffraction method | 基于X射线衍射峰线宽度的晶粒尺寸计算方法,通过X射线照射测试样本获得。 |
| 金属颗粒 metal particle | 金属颗粒的尺寸大约从1nm到100nm,通常包括颗:痛。 |
| 载体 carrier | 支撑部分,用于稳定地承载金属颗粒。 |
| 负载型金属催化剂 supported metal catalysts | 催化剂,其表面分散并固定有具有催化活性的金属颗粒。 |
| 金属胶体分散介质 metal colloid dispersion medium | 金属胶体分散在固体或液体介质中的材料。 |
| X射线衍射仪 XRD | 用于测量晶粒尺寸的仪器,可测量2nm至100nm的颗粒。 |
| 扫描电子显微镜 SEM | 用于测量颗粒尺寸的电子显微镜,可测量2nm或更大的颗粒。 |
| 透射电子显微镜 TEM | 用于测量颗粒尺寸的电子显微镜,可测量1nm或更大的颗粒。 |
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