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美利体育登录入口官网:JIS H 7803:2005
金属晶体中粒径和晶粒大小测定的一般规则

General rules for the determination of particle size and crystallite size in metal catalysts

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标准号
JIS H 7803:2005
发布
2005年
国际标准分类(ICS)
19.120 粒度分析、筛分   71.100.99 其他化工产品   77.020 金属生产   
总页数
10页
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS H 7803:2005
 
 
引用标准
JIS H 7008 JIS K 0050 JIS K 0131 JIS K 0132 JIS K 0211 JIS K 0215 JIS R 1633 JIS Z 8819-1
 
 
本体
颗粒大小
适用范围
本标准规定了1纳米以上和100纳米的颗粒分散并固定在载体(例如负载金属催化剂)上以及作为单独的金属胶体或分散在介质中(例如金属胶体悬浮液)而存在。本条规定了常见项目。当使用电子显微镜测量由具有以下粒径的金属元素制成的金属催化剂的粒径和使用X射线衍射测量微晶尺寸时。
术语描述
电子显微镜法
electron microscope method
通过电子显微镜观察测试样本的图像,测量金属颗粒的每个颗粒尺寸并进行统计处理,以获得平均颗粒尺寸和颗粒尺寸分布的方法。
X射线衍射法
X-ray diffraction method
基于X射线衍射峰线宽度的晶粒尺寸计算方法,通过X射线照射测试样本获得。
金属颗粒
metal particle
金属颗粒的尺寸大约从1nm到100nm,通常包括颗:痛。
载体
carrier
支撑部分,用于稳定地承载金属颗粒。
负载型金属催化剂
supported metal catalysts
催化剂,其表面分散并固定有具有催化活性的金属颗粒。
金属胶体分散介质
metal colloid dispersion medium
金属胶体分散在固体或液体介质中的材料。

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X射线衍射仪

XRD
用于测量晶粒尺寸的仪器,可测量2nm至100nm的颗粒。
扫描电子显微镜

SEM
用于测量颗粒尺寸的电子显微镜,可测量2nm或更大的颗粒。
透射电子显微镜

TEM
用于测量颗粒尺寸的电子显微镜,可测量1nm或更大的颗粒。

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