美利体育登录入口官网:GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
2016-01
正版授权中国标准出版社正式授权销售可通过授权方官方渠道验证
- 标准号
- GB/T 5594.8-1985
- 别名
- GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
- 发布
- 1985年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.030 电子技术专用材料
- 总页数
- 5页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 替代标准
- GB/T 5594.8-2015
- 当前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 本体
- 显微结构 陶瓷材料
- 适用范围
- 本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
美利体育登录入口官网: GB/T 5594.8-1985 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 偏光显微镜 | 用于观察陶瓷材料中的晶相和结构。 |
| 数字显微镜 | 用于测量晶粒大小和其他显微特征。 |
美利体育登录入口官网: 专题
美利体育登录入口官网: GB/T 5594.8-1985相似标准
美利体育登录入口官网: GB/T 5594.8-1985系列标准
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法