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美利体育登录入口官网:JIS H 7804:2005
用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法

Method for particle size determination in metal catalysts by electron microscope

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标准号
JIS H 7804:2005
发布
2005年
国际标准分类(ICS)
71.100.99 其他化工产品   77.020 金属生产   77.040.20 金属材料无损美利体育登录入口官网   
总页数
13页
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS H 7804:2005
 
 
引用标准
JIS H 7803 JIS Z 8819-1
 
 
本体
电子显微镜 颗粒尺寸
适用范围
本标准规定了用电子显微镜测定负载型金属催化剂等金属催化剂粒径的方法。
术语描述
分辨率
resolving-power
在显微镜中,区分微小颗粒的最小极限值。
STEM方法
STEM method
“扫描透射电子显微镜”的缩写,是添加了扫描功能的透射电子显微镜。
二次电子图像
secondary electron image
电子显微镜图像,其中从测试样品生成的二次电子被捕获并可视化。
反射电子图像
reflection electron image
电子显微镜图像,其中从测试样品生成的反射电子被捕获并可视化。
双波干涉网格图像
two-waves interfering grid image
由测试样品透射波和衍射波的干涉生成的干涉图。

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扫描电子显微镜

最大放大倍数0.50至1.00百万,分辨率1 nm至2 nm
用于观察物质表面形貌的高分辨率仪器。
透射电子显微镜

最大放大倍数0.50至1.5百万,分辨率0.1 nm至0.5 nm
用于观察物质内部结构的高分辨率仪器。

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