美利体育登录入口官网:JIS K 0131:1996
X射线衍射计测量分析的通用规则
General rules for X-ray diffractometric analysis
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- 标准号
- JIS K 0131:1996
- 发布
- 1996年
- 国际标准分类(ICS)
- 71.040.50 物理化学分析方法
- 总页数
- 30页
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 0131:1996
- 引用标准
- JIS K 0050 JIS K 0119 JIS K 0211 JIS K 0215 JIS Z 9101 JIS Z 9104
- 本体
- X射线衍射仪
- 适用范围
- 本标准规定了使用X射线衍射装置测量衍射X射线以识别和定量物质、精确测量晶格常数和测量结晶度时的一般事项。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 样品旋转台 specimen rotation stage | 通过围绕垂直于测量表面的轴旋转样品，使晶粒尺寸对衍射X射线强度的影响均匀化的样品台。 |
| 纤维样品台 fiber specimen stage | 用于测量纤维样品、薄膜等取向的样品台。通常具有围绕垂直于样品长度方向的轴旋转样品的机制。 |
| 单色器 monochrometor | 进行X射线波长选择的分光仪。 |
| X射线吸收效应 absorption effect (of X-ray) | 由于X射线在样品中的吸收而导致的衍射X射线强度的减少。 |
| 择优取向 preferred orientation | 由于晶粒向特定方向取向倾斜，导致仅强烈观察到特定衍射X射线的现象。 |
| 参考材料（X射线衍射用） reference material (for X-ray diffraction) | 化学性质稳定且高度纯化的物质，其晶格常数等特征已精确测量，可用作X射线测量或分析的标准。 |
| 晶格常数 lattice constants | 指定晶体中单位晶胞大小和形状的常数（棱长和棱间夹角）。 |
| 质量吸收系数 mass absorption coefficient | 表示X射线吸收程度（吸收系数）的系数与物质密度的商。 |
| Rietveld方法 Rietveld method | 通过对粉末衍射数据采用非线性最小二乘法处理，获得晶格常数或结构参数最可靠值的方法。获得最可靠值的过程称为“精确化”。 |
| 布拉格方程 Bragg equation | 给出X射线衍射发生条件的方程。 |
| 密勒指数 Miller indices | 用于指示晶面的指数。 |
| 相干散射 coherent scattering | 当X射线入射到物质上时散射出的X射线，其波长与入射X射线相同。也称为“弹性散射”。 |
| 非相干散射 incoherent scattering | 当X射线入射到物质上时散射出的X射线，其波长比入射X射线长。也称为“非弹性散射”。 |
| 晶粒 crystallite | 多晶体体内的单晶细颗粒。通常不超过0.1微米，具有使衍射X射线宽度变宽的作用。 |
| 不均匀应变 inhomogeneous strain | 由施加到或残留在晶粒上的应力引起的晶格不均匀应变。 |
| 残余应力 residual stress | 在多晶体体内，首先由外力引起多晶体弹性变形产生应力，然后去除外力后仍残留在内部的应力。当变形表现为沿平行于样品表面的方向拉伸时，称为“拉伸应力”；当表现为压缩时，称为“压缩应力”。 |
| 径向分布 radial distribution | 从被视为中心的任意原子到其他原子的距离分布。 |
| 织构 texture | 多晶体体内晶粒的组装状态。 |
| 极图 polar net | 由经线和纬线在球面上进行球面投影到赤道平面形成的网。 |
| 球面投影 stereographic projection | 为了表示晶体的方向，将晶体置于球心，将球面与晶体表面法线之间的交点（称为“极点”）投影到平面上。 |
美利体育登录入口官网: JIS K 0131:1996 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| X射线管 密封型或开管型 | 能够产生特征X射线并具备足够容量制备适合测量的衍射X射线的管子。 |
| X射线衍射仪 基本配置包括X射线发生器、测角仪、计数指示记录装置、控制和数据处理装置 | 用于测量衍射X射线，进行物质鉴定、晶格常数测量和结晶度测量的仪器。 |
| 探测器 正比计数器、闪烁计数器、半导体探测器、位置敏感正比计数器等 | 美利体育登录入口官网X射线并产生与其强度成正比的脉冲的装置。 |
| 测角仪 收敛系统或平行光束系统 | 测量衍射X射线衍射角的装置，需具备足够的角度精度和重现性。 |
| 脉冲高度分析器 无特定型号 | 具有通过识别脉冲高度差异来选择X射线能量的功能的分析器。 |