美利体育登录入口官网:JIS R 1636:1998
精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
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美利体育登录入口官网: JIS R 1636:1998 发布历史
JIS R 1636:1998由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 1998-01-20。
JIS R 1636:1998 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。
JIS R 1636:1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度的最新版本是哪一版？
最新版本是 JIS R 1636:1998 。
JIS R 1636:1998 发布之时，引用了标准
- ISO 3274 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 技术勘误1*， 1998-06-01 更新
- JIS B 0651 几何产品规范（GPS） 表面纹理：剖面法 接触式（触针式）仪器的标称特性（修正案 1）*， 2022-03-22 更新
- JIS R 1600 关于精细陶瓷术语的词汇表（修正案1）
- JIS Z 8401 数字四舍五入*， 2019-01-01 更新
* 在 JIS R 1636:1998 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
JIS R 1636:1998的历代版本如下：
- 1998年 JIS R 1636:1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
本标准规定了用触针式表面粗糙度计测试精细陶瓷薄膜厚度的方法。适用厚度范围为10-10000nm。
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- 标准号
- JIS R 1636:1998
- 发布
- 1998年
- ICS
-
81.060.30
- 总页数
- 9页
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS R 1636:1998
- 引用标准
- ISO 3274 JIS B 0651 JIS R 1600 JIS Z 8401
- 本体
- 精细陶瓷薄膜 薄膜厚度
美利体育登录入口官网: JIS R 1636:1998 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 接触式探针轮廓仪 符合JIS B 0651或ISO 3274 | 用于测量薄膜厚度的接触式轮廓测量仪器 |
| 接触探针 金刚石材质，锥形带球形尖端，顶角60°或90°，半径2μm、5μm、10μm或12.5μm | 轮廓仪的测量探针 |
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UNE-EN ISO 18452:2016 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）-通过接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
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