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美利体育登录入口官网:SFS-EN ISO 18452:2016
精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 采用接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜厚度（ISO 18452:2005）

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005)


标准号
SFS-EN ISO 18452:2016
发布
2016年
发布单位
芬兰标准协会
当前最新
SFS-EN ISO 18452:2016
 
 
适用范围
ISO 18452:2005 规定了使用接触式探针轮廓仪测定细陶瓷膜和陶瓷涂层膜厚的方法。该方法适用于膜厚范围为10纳米至10000纳米的涂层。

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