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本标准规定了使用原子力显微术(AFM)测量纳米薄膜厚度的原理、测试条件、美利体育官网首页网址、样品、测试步骤和数据处理。 本标准适用于表面均匀、平整的纳米范围厚度的无机材料薄膜。较厚的和一些有机薄膜的膜厚测定也可参照执行。
| 原子力显微镜 | 宜选择的测试模式有接触模式、轻敲模式和PeakForce模式。探针的选择根据测试模式不同而异:弹性系数小于5N/m用于接触模式,大于2N/m用于轻敲模式,介于0.1N/m至1N/m之间用于PeakForce模式。 |
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