仪器选择:使用 原子力显微镜 (AFM),推荐工作模式:
| 测试模式 | 探针弹性系数要求 |
|---|---|
| 接触模式 | <5 N/m |
| 轻敲模式 | >2 N/m |
| PeakForce模式 | 0.1-1 N/m |
校准要求:使用标准样品进行x-y和z方向校准
采用以下方法之一制备测量台阶:
确保表面无油脂、水渍等污染物
| 步骤 | 操作要点 |
|---|---|
| 平面拟合 | 修正扫描弯曲 |
| 数据筛选 | 剔除台阶两侧5-10%数据 |
| 高度计算 | 使用公式计算平均厚度 |
厚度计算公式:
Zt = (ΣZi/N1) - (ΣZj/N2)
必须包含:环境参数、样品信息、仪器型号、探针规格、测试图像、厚度数据及平均值
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本标准规定了使用原子力显微术(AFM)测量纳米薄膜厚度的原理、测试条件、美利体育官网首页网址、样品、测试步骤和数据处理。 本标准适用于表面均匀、平整的纳米范围厚度的无机材料薄膜。较厚的和一些有机薄膜的膜厚测定也可参照执行。
| 原子力显微镜 | 宜选择的测试模式有接触模式、轻敲模式和PeakForce模式。探针的选择根据测试模式不同而异:弹性系数小于5N/m用于接触模式,大于2N/m用于轻敲模式,介于0.1N/m至1N/m之间用于PeakForce模式。 |
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