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美利体育登录入口官网:BS IEC 62951-4:2019
半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性半导体器件基材上柔性导电薄膜的疲劳评估

Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices - Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices


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BS IEC 62951-4:2019

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标准号
BS IEC 62951-4:2019
发布
2019年
ICS
31.080.99
总页数
16页
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS IEC 62951-4:2019
 
 
引用标准
IEC 62047-12:2011 IEC 62047-22:2014 IEC 62047-2:2006 IEC 62715-1-1:2013 IEC 62951-1:2017
 
 
本体
导电薄膜 柔性基板

BS IEC 62951-4-柔性导电薄膜是什么? BS IEC 62951-4 是半导体多系列标准的第四部分。 BS IEC 62951-4规定了用于柔性半导体器件的导电薄膜和柔性基板的弯曲疲劳性能的评估方法。膜包括沉积或粘合到非导电柔性基板上的任何膜,例如用于柔性半导体器件的薄金属膜、透明导电电极和薄硅膜。评估基材上薄膜的电气和机械性能。疲劳试验方法包括...

术语 
弯曲半径 Bending radius
临界弯曲半径 Critical bending radius
柔性基板 Flexible substrate
外弯曲测试 Outer bending test
内弯曲测试 Inner bending test

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循环弯曲测试美利体育官网首页网址
包括夹持弯曲测试样品的夹具、移动部件和控制系统,用于调节循环弯曲次数、移动距离和移动速度。

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