美利体育登录入口官网:GJB 33/17-2011
半导体光电子器件 GO11型半导体光电耦合器详细规范
Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GO11 semiconductor photocoupler
- 标准号
- GJB 33/17-2011
- 发布
- 2011年
- 总页数
- 20页
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 当前最新
- GJB 33/17-2011
- 引用标准
- GJB 128A-1997 GJB 33A-1997 GJB 4027A-2006 SJ 2215-1982
- 本体
- 破坏性物理分析
- 适用范围
- 本规范规定了GO11型半导体光电耦合器（以下简称“器件”）的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购。
| GO11 型半导体光电耦合器 GO11 semiconductor photocoupler | 一种采用双列八脚陶瓷金属密封结构的半导体光电子器件，内部包含砷化镓红外发射芯片和硅光敏接收芯片，用于军用电子美利体育官网首页网址和仪器。 |
| 芯片评价与控制 Chip evaluation and control | 对外购芯片进行的电测试、目检、高温寿命、温度循环、恒定加速度等试验及控制过程，以确保芯片质量符合规范。 |
| 破坏性物理分析 Destructive Physical Analysis (DPA) | 通过外部目检、X 射线检查、PIND、密封性测试、内部气体成分分析、内部目检、键合强度及剪切强度等试验，对器件进行破坏性分析以评估其内部结构和质量。 |
美利体育登录入口官网: GJB 33/17-2011 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 电流表 未指定 | 用于测量输出电流（Io）和输出截止电流（Ioff），在测试电流传输比和输出截止电流时使用。 |
| 示波器 双踪示波器 | 用于测量器件的延迟时间（tPLH 和 tPHL），通过观察输入输出波形图进行测量。 |
| 电压表 未指定 | 用于测量输出低电平电压（Vol），在测试输出低电平电压时使用。 |
