
点击查看大图
本规范规定了GO11型半导体光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购。
| GO11 型半导体光电耦合器 | GO11 semiconductor photocoupler |
| 芯片评价与控制 | Chip evaluation and control |
| 破坏性物理分析 | Destructive Physical Analysis (DPA) |
| 电流表 未指定 | 用于测量输出电流(Io)和输出截止电流(Ioff),在测试电流传输比和输出截止电流时使用。 |
| 示波器 双踪示波器 | 用于测量器件的延迟时间(tPLH 和 tPHL),通过观察输入输出波形图进行测量。 |
| 电压表 未指定 | 用于测量输出低电平电压(Vol),在测试输出低电平电压时使用。 |
Copyright ?2007-2026 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
页面更新时间: 2026-06-09 19:30