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美利体育登录入口官网:GJB 33/17-2011
半导体光电子器件 GO11型半导体光电耦合器详细规范

Semiconductor optoelectronic device.Detail specification for type GO11 semiconductor photocoupler


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GJB 33/17-2011

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标准号
GJB 33/17-2011
发布
2011年
总页数
20页
发布单位
国家军用标准-总装备部
当前最新
GJB 33/17-2011
 
 
引用标准
GJB 128A-1997 GJB 33A-1997 GJB 4027A-2006 SJ 2215-1982
 
 
本体
破坏性物理分析

本规范规定了GO11型半导体光电耦合器(以下简称“器件”)的详细要求。 本规范适用于器件的研制、生产和采购。

GO11 型半导体光电耦合器 GO11 semiconductor photocoupler
芯片评价与控制 Chip evaluation and control
破坏性物理分析 Destructive Physical Analysis (DPA)

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电流表

未指定
用于测量输出电流(Io)和输出截止电流(Ioff),在测试电流传输比和输出截止电流时使用。
示波器

双踪示波器
用于测量器件的延迟时间(tPLH 和 tPHL),通过观察输入输出波形图进行测量。
电压表

未指定
用于测量输出低电平电压(Vol),在测试输出低电平电压时使用。

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