电子显微镜是利用电子束观察物质形状的高分辨率仪器，如扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），用于材料微观结构、纳米物体及其聚集体的表征和分析。
| 标准号 & 类别 | 标准名称 | 发布 |
|---|---|---|
| ASTM STP 245-1958 规范 |
Symposium on Advances in Electron Metallography
|
1958-12 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 257-1959 试验 |
Symposium on Microscopy
光学显微镜 |
1959 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 262-1960 试验/规范 |
Seminar on Electron Microscopy of Metallurgy
|
1960 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 348-1964 规范 |
Resin Atlas
|
1964 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 453-1969 试验 |
电子显微断口分析在美国材料与试验学会第七十一届年会上发表的研讨会 ELECTRON MICROFRACTOGRAPHY A symposium presented at the Seventy-first Annual Meeting AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS
断裂力学 |
1969-10 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 480-1970 试验/规范 |
Application of Modern Metallurgy Technology
|
1970 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 699-1980 规范/指南 |
Applied Surface Analysis
二次离子质谱 |
1980-02 美国材料与试验协会 |
| GB/T 2679.11-2008 试验 |
纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法 Paper and board.Qualitative analysis of mineral filler and mineral coating.SEM/EDAX Method
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2008-08-19 国家市场监督管理总局 |
| JIS H 7804:2005 试验标准 |
Method for particle size determination in metal catalysts by electron microscope
颗粒尺寸 |
2005-03-20 日本工业标准调查会 |
| LST CEN/TS 18117:2025 试验 |
工作场所暴露 使用电子显微镜美利体育登录入口官网表征空气中纳米物体及其聚集体和团聚体（NOAA） 采样和分析规则 Workplace exposure - Detection and characterization of airborne NOAA using electron microscopy - Rules for sampling and analysis
采样器 |
2025-03-31 立陶宛标准局 |
| SN/T 2041-2008 规程 |
Rules for inspection of nano-titanium dioxide
纳米二氧化钛 |
2008-04-29 行业标准-出入境检验检疫 |
| SN/T 2042-2008 试验 |
Rules for inspection of nano-calcium silicate
|
2008-04-29 行业标准-出入境检验检疫 |
| SN/T 2043-2008 试验 |
Rules for inspection of nano-calcium carbonate
纳米碳酸钙 |
2008-04-29 行业标准-出入境检验检疫 |
| SN/T 2044-2008 试验 |
Rules for inspection of nano-alumina
|
2008-04-29 行业标准-出入境检验检疫 |
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