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美利体育登录入口官网:JIS H 7804:2005
用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法

Method for particle size determination in metal catalysts by electron microscope

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美利体育登录入口官网: JIS H 7804:2005 发布历史

JIS H 7804:2005由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2005-03-20。

JIS H 7804:2005 在中国标准分类中归属于: H10 金属化学分析方法综合,在国际标准分类中归属于: 71.100.99 其他化工产品,77.020 金属生产,77.040.20 金属材料无损美利体育登录入口官网。

JIS H 7804:2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法的最新版本是哪一版?

最新版本是 JIS H 7804:2005 。

JIS H 7804:2005 发布之时,引用了标准

  • JIS H 7803 金属晶体中粒径和晶粒大小测定的一般规则
  • JIS Z 8819-1 粒度分析结果的表示方法.第1部分:图形表示

JIS H 7804:2005的历代版本如下:

  • 2005年 JIS H 7804:2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法

 

本标准规定了用电子显微镜测定负载型金属催化剂等金属催化剂粒径的方法。

术语描述
分辨率
resolving-power
在显微镜中,区分微小颗粒的最小极限值。
STEM方法
STEM method
“扫描透射电子显微镜”的缩写,是添加了扫描功能的透射电子显微镜。
二次电子图像
secondary electron image
电子显微镜图像,其中从测试样品生成的二次电子被捕获并可视化。
反射电子图像
reflection electron image
电子显微镜图像,其中从测试样品生成的反射电子被捕获并可视化。
双波干涉网格图像
two-waves interfering grid image
由测试样品透射波和衍射波的干涉生成的干涉图。

JIS H 7804:2005

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标准号
JIS H 7804:2005
发布
2005年
ICS
71.100.99
77.020
77.040.20
总页数
13页
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS H 7804:2005
 
 
引用标准
JIS H 7803 JIS Z 8819-1
 
 
本体
电子显微镜 颗粒尺寸

美利体育登录入口官网: JIS H 7804:2005 中提到的仪器美利体育官网首页网址

扫描电子显微镜

最大放大倍数0.50至1.00百万,分辨率1 nm至2 nm
用于观察物质表面形貌的高分辨率仪器。
透射电子显微镜

最大放大倍数0.50至1.5百万,分辨率0.1 nm至0.5 nm
用于观察物质内部结构的高分辨率仪器。

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