美利体育登录入口官网:GB/T 6624-2009
硅抛光片表面质量目测检验方法
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
GBT6624-2009, GB6624-2009
美利体育登录入口官网: GB/T 6624-2009 发布历史
GB/T 6624-2009由国家市场监督管理总局 国家标准化管理员会 CN-GB 发布于 2009-10-30，并于 2010-06-01 实施。
GB/T 6624-2009 在中国标准分类中归属于: H80 半金属与半导体材料综合，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 6624-2009 。
GB/T 6624-2009 发布之时，引用了标准
- GB/T 14264 半导体材料术语*， 2024-04-25 更新
* 在 GB/T 6624-2009 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GB/T 6624-2009的历代版本如下：
- 2009年 GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
- 1995年 GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
本标准规定了在一定光照条件下,用目测检验单晶抛光片表面质量的方法。 本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。
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- 标准号
- GB/T 6624-2009
- 别名
- GBT6624-2009
GB6624-2009 - 发布
- 2009年
- ICS
-
29.045
- 总页数
- 5页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 当前最新
- GB/T 6624-2009
- 引用标准
- GB/T 14264
- 被代替标准
- GB/T 6624-1995
美利体育登录入口官网: GB/T 6624-2009 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 净化室 净化级别不低于100级 | 用于减少颗粒污染的无尘环境。 |
| 大面积漫射光源 调节光强度的荧光灯或乳白灯 | 提供均匀光照，避免直射光线干扰观察。 |
| 高强度汇聚光源 照度不小于230,000lux | 用于提供高强光以照射抛光片表面，美利体育登录入口官网缺陷。 |