美利体育登录入口官网:DIN EN 60749-31:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料封装器件的易燃性(内部引起的)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-31:2003
美利体育登录入口官网: DIN EN 60749-31:2003 发布历史
DIN EN 60749-31:2003由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2003-12，并于 2003-12-01 实施。
DIN EN 60749-31:2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 13.220.40 材料和制品的可燃性和燃烧性能,31.080.01 半导体器分立件综合。
DIN EN 60749-31:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料封装器件的易燃性(内部引起的)的最新版本是哪一版？
最新版本是 DIN EN 60749-31:2003-12 。
- 标准号
- EN 60749-31:2003
- 发布时间
- 2003-06-01
- 标准名称
- 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑料封装器件的易燃性（自燃）
- 发布机构
- CENELEC
- 编制依据
- IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003
- 文件关系说明
- 该欧洲标准是IEC 60749-31:2002的德语版本，与IEC标准内容一致。
- 代替/废止文件关系
- 部分替代 DIN EN 60749:2002-09 的第4章第1.1节。
- 与国际文件关系
- 等同于 IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003。
- 提出和归口信息
- 由DKE德国电气电子信息技术委员会（DKE）负责，技术委员会TC 47（半导体器件）制定。
- 起草信息
- 由IEC/TC 47起草。
- 版本历史
- 前身包括DIN 41794-1:1972-06, DIN IEC 60749:1987-09, DIN EN 60749:2000-02, 2001-09, 2002-09。
- 解释单位
- CENELEC
- 编制原因和目的
- 将IEC 60749中的试验方法分拆为独立部分发布，以评估塑料封装器件在过度应力下是否因自热而自燃。
- 技术内容特殊信息
- 试验中需缓慢增加电损耗功率，直至达到五倍额定值、发生断路/短路/电阻过大或起火。
- 分部分标准的各部分关系
- 该部分是IEC 60749系列标准的一部分，各部分独立编号，无逻辑分组关系。
- 与法规或其他标准的关系说明
- 该标准是欧洲标准，成员国需将其作为国家标准发布或认可。
DIN EN 60749-31:2003的历代版本如下：
- 2018年 DIN EN 60749-3:2018 半导体器件机械和气候测试方法 第3部分：外部目视检查（IEC 60749-3:2017）
- 2003年 DIN EN 60749-3:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 0000年 DIN EN 60749:2002
该项目适用于半导体器件（分立器件和集成电路）。 该测试的目的是确定美利体育官网首页网址是否由于过度过载而导致内部发热而着火。
点击查看大图
- 标准号
- DIN EN 60749-31:2003
- 发布
- 2003年
- ICS
-
13.220.40
31.080.01
- 总页数
- 5页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-31:2003-12
- 当前最新
- DIN EN 60749-31:2003-12
- 被代替标准
- DIN EN 60749:2002
- 本体
- 自燃