标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第 26 部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBMD)
适用范围:
本文件依据元器件和微电路对规定的人体模型(HBM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了元器件和微电路的 ESD 测试、评价和分级程序。目的是建立一种能够复现 HEBM 失效的测试方法,并为不同类型的元器件提供可靠、可重复的测试手段。
本文件是 GB/T 4937《半导体器件 机械和气候试验方法》的第 26 部分,旨在规定静电放电(ESD)敏感度测试的具体操作与要求。该标准等同采用 IEC 60749-26:2018 的相关内容。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 互连非电源引脚 associated non-supply pin | 与电源引脚组相连的非电源引脚,通常为I/O引脚。 |
| 同名非电源(I/O)引脚 cloned non-supply (I/O) pin | 具有相同I/O单元和电路原理的一组输入、输出或双向引脚。 |
| 示波器 | 用于显示和评估测试美利体育官网首页网址的脉冲波形。推荐使用数字示波器,但也允许使用模拟示波器。 |
| 电流传感器 | 用于测量电流波形。 |
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