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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
GBT4937.23-2023, GB4937.23-2023
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- 标准号
- GB/T 4937.23-2023
- 别名
- GBT4937.23-2023, GB4937.23-2023
- 发布
- 2023年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.01 半导体器分立件综合
- 总页数
- 16页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 当前最新
- GB/T 4937.23-2023
-
标准名称：
半导体器件 机械和气候试验方法 第 23 部分: 高温工作寿命
标准号：GB/T 4937.23-2023/IEC 60749-23:2011
适用范围：本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。
中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.23-2023/IEC 60749-23:2011 是关于半导体器件机械和气候试验方法中的高温工作寿命部分。标准详细规定了固态器件在不同偏置条件和温度下的影响，旨在通过模拟长期的工作环境来评估器件的可靠性和使用寿命。
此标准基于国际电工委员会（IEC）的相关标准进行制定，并结合中国的实际情况进行了相应的调整和完善。它主要用于半导体器件的研发、生产和质量控制环节中的可靠性试验。
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