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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
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- 标准号
- GB/T 4937.23-2023
- 别名
- GBT4937.23-2023
GB4937.23-2023 - 发布
- 2023年
- ICS
-
31.080.01
- 总页数
- 16页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 当前最新
- GB/T 4937.23-2023
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第 23 部分: 高温工作寿命 标准号：GB/T 4937.23-2023/IEC 60749-23:2011 适用范围：本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。 中华人...
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