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精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 用接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005); German version EN ISO 18452:2016
美利体育登录入口官网: DIN EN ISO 18452:2016-09 中，可能用到以下仪器
高精度探针式轮廓仪
深圳市中图仪器股份有限公司
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| 接触式轮廓仪 符合ISO 3274标准，配备金刚石触针（半径2 ?m, 5 ?m, 10 ?m或12.5 ?m，锥角60°或90°） | 用于扫描样品表面并获取高度轮廓的仪器，需使用校准标准件进行校准，确保测量精度。 |
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