美利体育登录入口官网:DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
纳米技术 粉末形态的纳米粒子 特性与测量
Nanoparticle Characterization and Measurement of Nanotechnology Powder Morphology
- 标准号
- DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
- 发布
- 2015年
- 总页数
- 16页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
- 引用标准
- EN 13925-1:2003 ISO 13322-1 ISO 14488 ISO 14887 ISO 2859 ISO 29301:2010 ISO 3262-6:1998 ISO 591-1:2000 ISO 9277:2010 ISO/TS 27687 JIS K 0131:1996
- 适用范围
- 本技术规范列出了粉末状纳米颗粒的一般基本特性，并针对每项特性规定了具体的测量方法。本技术规范并未制定可接受的定量标准，因为这些标准必须由供应商、客户和监管机构共同商定。与健康、安全和环境问题相关的特性，以及与粉末状纳米颗粒特定应用相关的特性，均不包含在本技术规范中。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| Transmissionselektronenmikroskopie Transmission Electron Microscopy | 利用电子束穿透样品并与样品相互作用，从而产生样品放大图像或衍射图谱的方法。 |
| R?ntgenbeugung X-ray Diffraction | 通过观察X射线被样品散射产生的衍射图谱，以获取样品晶体学和几何信息的方法。 |
| spezifische Oberfl?che Specific Surface Area | 样品的绝对表面积除以样品的质量。在本技术规范中，绝对表面积通过BET法测量物理吸附气体量来计算。 |
| Feret-Durchmesser Feret Diameter | 颗粒图像相对两侧两条平行切线之间的距离。 |
美利体育登录入口官网: DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| BET比表面积仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定比表面积 |
| X射线荧光光谱仪 XRF | 用于测定化学成分 |
| X射线衍射仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定晶体结构、晶粒尺寸（Scherrer方程） |
| 电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP-OES | 用于测定化学成分 |
| 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS | 用于测定化学成分 |
| 透射电子显微镜 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于获取纳米颗粒图像以测量初级颗粒尺寸 |