美利体育登录入口官网:DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
纳米技术 粉末形态的纳米粒子 特性与测量
Nanoparticle Characterization and Measurement of Nanotechnology Powder Morphology
美利体育登录入口官网: DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 发布历史
DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2015，并于 0000-00-00 实施。
DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 纳米技术 粉末形态的纳米粒子 特性与测量的最新版本是哪一版？
最新版本是 DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 。
- 标准号
- CEN ISO/TS 17200:2015
- 发布时间
- 2015-05-16
- 标准名称
- 纳米技术 - 粉末状纳米颗粒 - 特性和测量
- 发布机构
- 欧洲标准化委员会 (CEN)
- 编制依据
- ISO/TS 17200:2013
- 文件关系说明
- CEN ISO/TS 17200:2015 是采用 ISO/TS 17200:2013 作为欧洲技术标准的技术规范。
- 与国际文件关系
- 等同采用 ISO/TS 17200:2013
- 专利声明（未识别专利）
- 本文件的一些元素可能涉及专利。CEN 不负责识别此类专利。
- 提出和归口信息
- 由 CEN/TC 352 “纳米技术”制定，秘书处由 AFNOR 担任。
- 起草信息
- 由 ISO/TC 229 “纳米技术”制定。
- 版本历史
- 本文件于2015年5月16日被CEN采纳，有效期最初为三年。
- 解释单位
- CEN成员国家标准化机构
- 编制原因和目的
- 为纳米技术中粉末状纳米颗粒的卖家、买家和监管机构建立关于材料特性的共同理解，提供统一的特性和测量方法描述。
- 技术内容特殊信息
- 规定了纳米颗粒粉末的基本特性（化学组成、比表面积、晶体结构、晶粒尺寸、初级颗粒尺寸）及其对应的测量方法。
- 与法规或其他标准的关系说明
- 参考了ISO/TR 12885:2008关于职业环境中纳米技术健康安全的做法。
- 风险分析或特殊提示
- 使用者应关注与纳米技术相关的健康、安全和环境保护的最新发展及法律要求。
DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 发布之时，引用了标准
- EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理
- ISO 13322-1 粒度分析.图像分析法.第1部分:静态图像分析法
- ISO 14488 颗粒材料.测定颗粒特性用取样和样品分离.修改件1
- ISO 14887 样品制备.粉末在液体中的分散方法
- ISO 2859 按属性检验的抽样程序和表格 补充件1
- ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO 3262-6:1998 涂料用填充剂 规范和试验方法 第6部分:沉淀碳酸钙
- ISO 591-1:2000 色漆用二氧化钛颜料 第1部分:规范和试验方法
- ISO 9277:2010 气体吸附法测定颗粒比表面积.BET方法
- ISO/TS 27687 纳米技术.纳米对象用术语和定义.纳米颗粒、纳米纤维和纳米板
- JIS K 0131:1996 X射线衍射计测量分析的通用规则
DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015的历代版本如下：
- 2015年 DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 纳米技术 粉末形态的纳米粒子 特性与测量
本技术规范列出了粉末状纳米颗粒的一般基本特性，并针对每项特性规定了具体的测量方法。本技术规范并未制定可接受的定量标准，因为这些标准必须由供应商、客户和监管机构共同商定。与健康、安全和环境问题相关的特性，以及与粉末状纳米颗粒特定应用相关的特性，均不包含在本技术规范中。
DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 是基于 CEN ISO/TS 17200 的发版本。
采用 CEN ISO/TS 17200 的发行版本有：
- DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 纳米技术 粉末形态的纳米粒子 特性与测量
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| Transmissionselektronenmikroskopie Transmission Electron Microscopy | 利用电子束穿透样品并与样品相互作用，从而产生样品放大图像或衍射图谱的方法。 |
| R?ntgenbeugung X-ray Diffraction | 通过观察X射线被样品散射产生的衍射图谱，以获取样品晶体学和几何信息的方法。 |
| spezifische Oberfl?che Specific Surface Area | 样品的绝对表面积除以样品的质量。在本技术规范中，绝对表面积通过BET法测量物理吸附气体量来计算。 |
| Feret-Durchmesser Feret Diameter | 颗粒图像相对两侧两条平行切线之间的距离。 |
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- 标准号
- DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
- 发布
- 2015年
- 总页数
- 16页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015
- 引用标准
- EN 13925-1:2003 ISO 13322-1 ISO 14488 ISO 14887 ISO 2859 ISO 29301:2010 ISO 3262-6:1998 ISO 591-1:2000 ISO 9277:2010 ISO/TS 27687 JIS K 0131:1996
美利体育登录入口官网: DIN CEN ISO/TS 17200:2015*DIN SPEC 52297:2015 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| BET比表面积仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定比表面积 |
| X射线荧光光谱仪 XRF | 用于测定化学成分 |
| X射线衍射仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定晶体结构、晶粒尺寸（Scherrer方程） |
| 电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP-OES | 用于测定化学成分 |
| 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS | 用于测定化学成分 |
| 透射电子显微镜 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于获取纳米颗粒图像以测量初级颗粒尺寸 |