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本技术规范列出了粉末状纳米颗粒的一般基本特性,并针对每项特性规定了具体的测量方法。本技术规范并未制定可接受的定量标准,因为这些标准必须由供应商、客户和监管机构共同商定。与健康、安全和环境问题相关的特性,以及与粉末状纳米颗粒特定应用相关的特性,均不包含在本技术规范中。
| 术语 | |
|---|---|
| Transmissionselektronenmikroskopie | Transmission Electron Microscopy |
| R?ntgenbeugung | X-ray Diffraction |
| spezifische Oberfl?che | Specific Surface Area |
| Feret-Durchmesser | Feret Diameter |
| BET比表面积仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定比表面积 |
| X射线荧光光谱仪 XRF | 用于测定化学成分 |
| X射线衍射仪 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于测定晶体结构、晶粒尺寸(Scherrer方程) |
| 电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP-OES | 用于测定化学成分 |
| 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS | 用于测定化学成分 |
| 透射电子显微镜 商品化测量美利体育官网首页网址 | 用于获取纳米颗粒图像以测量初级颗粒尺寸 |
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