| 离子减薄仪 无具体型号 | 用于减薄样品。 |
| 冷冻超薄切片机 无具体型号 | 用于制备一维或二维横截面电镜样品。 |
| 分析天平 感量为 0.1 mg | 用于称量样品。 |
| 电子显微镜 TEM,配能谱仪(EDS)探头,点分辨率不次于 0.3 nm,照相机(CCD)像素 1024x1024 | 用于测定纳米材料的尺度、晶体形态及产出率。 |
| 超声波振荡器 无具体型号 | 用于样品分散。 |
| 高分辨电子显微镜 HRTEM,点分辨率优于 0.2 nm,照相机(CCD)像素 1024x1024 | 用于测定晶体学参数、微区晶体结构及晶体微结构。 |
电子天平鉴别力的检定??? 对电子天平只有鉴别力是有意义的,因而不存在灵敏度的检定问题。对鉴别力的检定,比较严谨的方法是:先将相当于检定载荷(规程指出载荷选用空载、全载或二者中一种)示值L的砝码加在天平盘上(其中有10个d/10的小砝码),然后逐个取下d/10的小砝码至显示值变为L-d时,再加上一个...
重复性检定 重复性是描述电子天平在相同的测量条件下,对同一载荷多次称量结果之间的差值,是衡量电子天平称量结果能否达到一致的能力。重复性检定应在空载和加载状态下进行,其检定过程及数据处理方法按JJG98-90第45页表18进行。对e≥5d的电子天平同样允许省略数字化整误差的修正过程而直接用天平示...
中科院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室(筹)徐红星研究员领导的研究小组一直致力于等离激元光子学(Plasmonics)这一新兴领域的研究。他们在纳米光传导和单分子远程探测【Nano Lett. 9, 2049 ,(2009)】、纳米光电集成基础的光-激子...
1.二者原理不同:椭偏仪:通过测量光波经样品反射后偏振态的变化来获得样品的信,可测量膜层厚度d、折射率n和消光系数k,或者直接测量固相材料的折射率n和消光系数k。反射式膜厚测量仪:一般是利用白光干涉的原理,通过测量光波经样品反射后幅值(或者说光强)的变化来获得膜层的厚度d、折射率n和消光系数k信息...
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