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美利体育登录入口官网:SN/T 2042-2008
纳米偏硅酸钙检验规程

Rules for inspection of nano-calcium silicate

SNT2042-2008, SN2042-2008


标准号
SN/T 2042-2008
别名
SNT2042-2008, SN2042-2008
发布
2008年
总页数
10页
发布单位
行业标准-出入境检验检疫
当前最新
SN/T 2042-2008
 
 
引用标准
GB/T 1250 GB/T 13221 JC/T 535
 
 
本体
电子显微镜
适用范围
本标准规定了纳米偏硅酸钙的分类、技术指标、试验方法和检验规则。本标准适用于纳米偏硅酸钙粉体材料的检验。
纳米偏硅酸钙
nano-calcium silicate
一种纳米级硅酸钙粉体材料,具有粒状、线状或带状等晶体形态,用于检验规程中规定的技术指标和试验方法。
电子显微镜
electron microscope
用于测定纳米材料尺度、晶体形态及产出率的仪器,包括透射电子显微镜(TEM)和高分辨电子显微镜(HRTEM)。
检验规则
inspection rules
规定纳米偏硅酸钙产品的批量划分、取样方法、判定规则及检验结果处理的技术要求。

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离子减薄仪

无具体型号
用于减薄样品。
冷冻超薄切片机

无具体型号
用于制备一维或二维横截面电镜样品。
分析天平

感量为 0.1 mg
用于称量样品。
电子显微镜

TEM,配能谱仪(EDS)探头,点分辨率不次于 0.3 nm,照相机(CCD)像素 1024x1024
用于测定纳米材料的尺度、晶体形态及产出率。
超声波振荡器

无具体型号
用于样品分散。
高分辨电子显微镜

HRTEM,点分辨率优于 0.2 nm,照相机(CCD)像素 1024x1024
用于测定晶体学参数、微区晶体结构及晶体微结构。

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