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美利体育登录入口官网:场效应晶体管

指利用电场效应控制电流的半导体器件,通过栅极电压变化调节源漏极间导电通道,是集成电路中实现信号放大与开关功能的核心元件。


场效应晶体管有关的标准

标准号 & 类别标准名称发布
ANSI/HI 1.4-2010
试验标准

转子动力(Cent.)泵的安装,操作和维修

Rotodynamic (Cent.) Pumps for Installation, Operation & Maintenance

2010
美国国家标准学会
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021
规范标准

半导体器件 分立器件 场效应晶体管

Semiconductor devices. Discrete devices - Field-effect transistors

2021-07-31
英国标准学会
GB/T 4586-1994
CP

半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 8: Field-effect transistors

1994-12-31
国家市场监督管理总局
GB/T 6219-1998
CP

半导体器件 分立器件 第8部分;场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范

Semiconductor devices--Discrete devices. Part 8: Field-effect transistors. Section One--Blank detail specification for single-gate field-effect transistors up to 5W and 1GHz

1998-11-17
国家市场监督管理总局
GOST 20398.1-1974
试验

场效应晶体管.直接传送全导纳模数测量方法

Field-effect transistors. Shot-circuit forward transfer admittance measurement technique


测量装置 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.14-1988
试验

场效应晶体管.输出功率、功率放大系数和漏的有效系数的测量方法

Field-effect transistors. Method of measuring output power, power gain and drain efficiency


输出功率 

1988
俄罗斯标准局
GOST 20398.2-1974
试验

场效应晶体管.噪声系数测量方法

Field-effect transistors. Noise figure measurement technique


噪声系数 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.3-1974

场效应晶体管.特性曲线测量方法

Field-effect transistors. Forward transconductance measurement technique


测量电路 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.4-1974

场效应晶体管.输出导纳有功分量的测量方法

Field-effect transistors. Active output conductance component measurement technique


测量装置 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.5-1974
试验

场效应晶体管.输入电容、越渡电容和输出电容测量方法

Field-effect transistors. Input transfer and output capacitance measurement technique

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.6-1974
试验

场效应晶体管.闸门漏电流测量方法

Field-effect transistors. Gate leakage current measurement technique


测量装置 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.7-1974
试验

场效应晶体管.门限电压和截止电压测量方法

Field-effect transistors. Threshold and cut-off voltage measurement technique


阈值电压 

1974
俄罗斯标准局
GOST 20398.8-1974
试验

场效应晶体管.漏极起始电流测量方法

Field-effect transistors. Drain current for V(Gs)=0 measurement technique


测量装置 

1974
俄罗斯标准局
GOST R 71056-2023
参数规范

场效应晶体管 参数系统

Field effect transistor. Parameters system


噪声系数 

2023-11-16
俄罗斯标准局
IEC 60747-4:2017
规范标准

半导体器件 分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管(2.1 版;综合重。

Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 4: Diodes et transistors hyperfréquences (Edition 2.1; Consolidated Reprint)

2017-01-01
国际电工委员会
IEC 60747-8-3:1995

半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section 3: Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications

1995-04
国际电工委员会
IEC 60747-8:2010
试验

半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors


金属氧化物半导体场效应晶体管 

2010-12
国际电工委员会
IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV
规范标准

半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors

2021-06-25
国际电工委员会
IEC 60747-8:2021
试验标准

半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors

2021
国际电工委员会
IEC 60835-3-6:1996
试验

数字微波无线电传输系统使用美利体育官网首页网址的测量方法 第3部分:卫星地面站的测量 第6节:大功率放大器

Methods of measurement for equipment used in digital microwave transmission systems - Part 3: Measurements on satellite earth stations - Section 6: High-power amplifiers


功率放大器 

1996-03
国际电工委员会
IEC TS 62607-12-3:2026
试验

纳米制造 - 关键控制特性 - 第12-3部分:二维材料相关产品 - 基于二维材料的场效应晶体管的肖特基势垒高度:温度相关电流-电压测量

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 12-3: 2D material-related products - Schottky barrier heights of 2D material-based field-effect transistors: temperature-dependent current-voltage measurements


二维材料 

2026-06-01
国际电工委员会
IEC TS 62607-6-16:2022
试验标准

纳米制造.关键控制特性.第6-16部分:二维材料.载流子浓度:场效应晶体管法

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-16: Two-dimensional materials - Carrier concentration: Field effect transistor method


二维材料 载流子浓度 

2022-11-17
国际电工委员会
IEC TS 62607-6-27:2025
试验标准

纳米制造 - 关键控制特性 - 第6-27部分:石墨烯相关产品 - 二维材料层的场效应迁移率:场效应晶体管法

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-27: Graphene-related products - Field-effect mobility for layers of two-dimensional materials: field-effect transistor method


二维材料 

2025-12-01
国际电工委员会
IEC TS 62876-3-4:2025
试验标准

纳米制造 - 可靠性评估 - 第3-4部分:金属接触二维半导体器件输出特性的线性度

Nanomanufacturing - Reliability assessment - Part 3-4: Linearity of output characteristics for metal contacted 2D semiconductor devices


二维材料 

2025-12-01
国际电工委员会
JIS C 7030:1993
试验标准

晶体管的测量方法

Measuring methods for transistors

1993-02-01
日本工业标准调查会
JIS C 7032:1993
规范标准

晶体管用通用规则

General rules for transistors

1993-03-01
日本工业标准调查会
PD IEC TS 62607-6-16:2022
试验

纳米制造 关键控制特性 第6-16部分:二维材料 载流子浓度:场效应晶体管法

Nanomanufacturing — Key control characteristics — Part 6-16: Two-dimensional materials — Carrier concentration: Field effect transistor method

2022-11-30
英国标准学会
PD IEC TS 62607-6-27:2025
试验标准

纳米制造 关键控制特性 第6-27部分:石墨烯相关产品 二维材料层的场效应迁移率:场效应晶体管法

Nanomanufacturing — Key control characteristics — Part 6-27: Graphene-related products — Field-effect mobility for layers of two-dimensional materials: field-effect transistor method


二维材料 

2025-12-31
英国标准学会
PD IEC/TS 62607-12-3:2026
试验

纳米制造 - 关键控制特性 - 第12-3部分:二维材料相关产品 - 基于二维材料的场效应晶体管的肖特基势垒高度:温度依赖性电流-电压测量

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 12-3: 2D material-related products - Schottky barrier heights of 2D material-based field-effect transistors: temperature-dependent current-voltage measurements


二维材料 

2026-06-01
英国标准学会

 




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