美利体育登录入口官网:JIS C 7030:1993
晶体管的测量方法
Measuring methods for transistors
正版授权中国标准出版社正式授权销售可通过授权方官方渠道验证
- 标准号
- JIS C 7030:1993
- 发布
- 1993年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.30 三极管
- 总页数
- 101页
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS C 7030:1993
- 引用标准
- JIS C 0301 JIS C 1102
- 本体
- 场效应晶体管
- 适用范围
- 本标准规定了电子器件中使用的双极型晶体管和场效应晶体管（以下在不区分两者时简称晶体管）电性能的测量方法。
美利体育登录入口官网: JIS C 7030:1993 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 示波器 | 用于观测和测量脉冲信号的仪器 |
| 交流电压表 精度等级0.5 | 符合JIS C 1102标准的交流电压测量仪器 |
| 电流探头 | 用于测量电流的探头美利体育官网首页网址 |
| 直流电压表 精度等级0.5 | 符合JIS C 1102标准的直流电压测量仪器 |
美利体育登录入口官网: 专题
美利体育登录入口官网: JIS C 7030:1993相似标准
美利体育登录入口官网: 推荐
开创半导体测量技术的未来
着关键作用。半导体制造业目前每年产生约300亿美元的收入。二十年前，NIST研究人员的小团队专注于测量晶体管。晶体管是放大、控制和产生电信号的半导体器件。反过来，晶体管是集成电路的有源元件，也称为微芯片。单个微芯片可以包含数十亿个晶体管。这些微芯片已经发展成像指甲一样。扛晶体管都有一条DNA链的大小...
功率半导体 | PN 结、晶体管、双极型晶体管的基本原理
本文将围绕半导体的定义，解释使半导体器件可以工作的"两个要素”。然后从开关作用的角度来解释各种半导体器件的工作原理。关于PN 结、晶体管、双极型晶体管、MOS 晶体管、?功率型 MOSFET 等这些基本原理，将有助于理解功率半导体的功能。一、半导体的基本原理下面对半导体的基本原理做一个概述。这里所说...
数字万用表的进阶功能
从控制电路到小型嵌入式计算机，集成电路使现代数字仪表能提供更多的功能。 常见的增强测量包括： 限制电流的半导体结电压降测量，用来确定晶体管的类型； 测量量的图形化显示，比如柱状图； 可以使是否通过（go/no-go）测量更容易； 连续测量，并在电路发生状况时发声报警； 低频示波器...
一维连结：打破晶体管尺寸下限的新方向
? ? ? ?场效应晶体管器件（FET）尺寸的极致缩减是半导体集成电路产业发展的不懈追求，主要包括传输通道长度和接触长度等器件尺寸的缩减和性能的优化。得益于超薄的原子结构，新型层状二维半导体具有优异的静电调控能力，在克服短通道效应、缩减器件通道长度方面展现出了显著优势。但二维半导体通道的结构和特性也...