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光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面瑕疵

Optics and photonics. Preparation of drawings for optical elements and systems. Surface imperfections


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BS ISO 10110-7:2017

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标准号
BS ISO 10110-7:2017
发布
2017年
ICS
01.100.20
37.020
总页数
24页
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS ISO 10110-7:2017
 
 
引用标准
Ed 2 ISO 10110-1:2006 ISO 14997:2017 ISO 3:1973 ISO 9211-1:2010 ISO 9802:1996 ISO/TR 21477:2017
被代替标准
BS ISO 10110-7:2008
 
 
本体
光学元件 光学组件 表面缺陷

ISO 10110(所有部分)规定了单个光学元件和光学组件在用于其制造和检验的技术图纸中设计和功能要求的表示方法。本文件规定了单个光学元件和光学组件测试区域内表面缺陷的可接受水平的指示。这些缺陷包括局部表面缺陷、边缘缺口和长划痕。在规定缺陷的可接受水平时,不仅考虑了功能效应(影响光学元件的图像形成或耐用性),还考虑了外观效应。本文件适用于成品光学元件的透射和...

术语 
局部表面缺陷 localized surface imperfection
长划痕 long scratch
边缘缺口 edge chip
凹坑 dig
擦伤 scuff

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