美利体育登录入口官网:DIN ISO 14997:2013
光学和光子学. 光学元件表面缺陷的试验方法(ISO 14997-2011)
Optics and photonics - Test methods for surface imperfections of optical elements (ISO 14997:2011)
- 标准号
- DIN ISO 14997:2013
- 发布
- 2013年
- 国际标准分类(ICS)
- 37.020 光学美利体育官网首页网址
- 总页数
- 19页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN ISO 14997:2013-08
- 当前最新
- DIN ISO 14997:2018-05
- 引用标准
- ISO 10110-1 ISO 10110-10 ISO 10110-17 ISO 10110-4 ISO 10110-7 ISO 10110-8 ISO 11145 ISO 11151 ISO 21254-1 ISO 21254-2 ISO 21254-3
- 被代替标准
- DIN ISO 14997:2012
- 本体
- 表面缺陷
- 适用范围
- 光学和光子学 - 光学元件表面缺陷的试验方法。本国际标准规定了表面缺陷测量的物理基础和方法。该方法用于评估光学表面上被遮挡或受损的区域。这些方法适用于原型、小批量或大批量生产的各种光学元件。表面缺陷的外观或功能公差可以根据制造商和客户的协议确定。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 完全发育的表面缺陷 Fully developed surface imperfection | 散射所有入射辐射的表面缺陷。 |
| 部分发育的表面缺陷 Partially developed surface imperfection | 既透射又散射入射辐射的表面缺陷。 |
| 线当量宽度 (LEW) Line-equivalent width | 完全发育的划痕或吸收线的宽度，其吸收的辐射量与部分发育的划痕相同。完全发育的划痕的 LEW 等于其几何宽度。 |
| 点当量直径 (SED) Spot-equivalent diameter | 完全发育的凹坑或吸收面的直径，其吸收的辐射量与部分发育的凹坑相同。完全发育的凹坑的 SED 等于其几何直径，但级数是面积的平方根。 |
| 表面缺陷限值 Surface imperfection limit | 所有表面缺陷的总尺寸，以数字表示，超过此值该元件应被视为不适用于特定应用而被拒收。 |
| 亮场缺陷对比度 Bright-field defect contrast | 跨越表面缺陷图像的背景的亮度和最小亮度之差与这些值之和的比率。 |
| 阴影比较 Shadow comparison | 一种测量表面缺陷损坏程度的方法，将其在亮场条件下的峰值对比度与已知尺寸的阴影进行比较。 |
| 视觉对比度阈值 Visual contrast threshold | 特定观察者能够看到的物体亮度与背景亮度的最小比率。 |
美利体育登录入口官网: DIN ISO 14997:2013 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 微镜 低放大倍数 | 用于测量尺寸大于 10 微米的划痕长度和宽度以及缺陷尺寸的辅助工具。 |
| 显微镜图像比较器 用于测量尺寸小于 0.01 毫米的表面缺陷 | 一种用于比较表面缺陷与已知尺寸的参考缺陷（如不透明线条或斑点）以测量其阴影（LEW 和 SED）的仪器。 |
| 比较板 具有不同宽度的线条和不同直径的斑点 | 用于视觉比较表面缺陷尺寸的参考工具，通常通过蒸镀铬在玻璃上制成。 |