IEEE 1149.1-2013由美国电气电子工程师学会 US-IEEE 发布于 2013。
IEEE 1149.1-2013 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合,在国际标准分类中归属于: 31.180 印制电路和印制电路板,31.200 集成电路、微电子学。
IEEE 1149.1-2013 测试存取口及边界扫描结构用IEEE标准的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEEE 1149.1-2013 。
该标准定义了可包含在集成电路中的测试逻辑,旨在提供以下方面的标准化方法:测试集成电路组装到印刷电路板或其他基板后之间的互连;测试集成电路本身;以及在组件正常运行期间观察或修改电路活动。测试逻辑由边界扫描寄存器和其他构建模块组成,并通过测试访问端口 (TAP) 进行访问。

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