美利体育登录入口官网:IEEE 1149.1-2013
测试存取口及边界扫描结构用IEEE标准
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
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- 标准号
- IEEE 1149.1-2013
- 发布
- 2013年
- ICS
-
31.180
31.200
- 总页数
- 444页
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 当前最新
- IEEE 1149.1-2013
- 引用标准
- IEEE Std 1076 IEEE Std 1149.4 IEEE Std 1149.6 IEEE Std 1149.8.1 IEEE Std 1451.0
该标准定义了可包含在集成电路中的测试逻辑，旨在提供以下方面的标准化方法：测试集成电路组装到印刷电路板或其他基板后之间的互连；测试集成电路本身；以及在组件正常运行期间观察或修改电路活动。测试逻辑由边界扫描寄存器和其他构建模块组成，并通过测试访问端口 (TAP) 进行访问。
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