美利体育登录入口官网:IEEE 1149.1-2013
测试存取口及边界扫描结构用IEEE标准
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩。
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：IEEE 1149.1-2013 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
点击查看大图
- 标准号
- IEEE 1149.1-2013
- 发布
- 2013年
- ICS
-
31.180
31.200
- 总页数
- 444页
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 当前最新
- IEEE 1149.1-2013
- 引用标准
- IEEE Std 1076 IEEE Std 1149.4 IEEE Std 1149.6 IEEE Std 1149.8.1 IEEE Std 1451.0
该标准定义了可包含在集成电路中的测试逻辑，旨在提供以下方面的标准化方法：测试集成电路组装到印刷电路板或其他基板后之间的互连；测试集成电路本身；以及在组件正常运行期间观察或修改电路活动。测试逻辑由边界扫描寄存器和其他构建模块组成，并通过测试访问端口 (TAP) 进行访问。
美利体育登录入口官网: IEEE 1149.1-2013 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 自动测试美利体育官网首页网址 ATE | 用于控制和执行测试的自动化美利体育官网首页网址。 |