JIS Z 4334:2005由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2005-03-20。
JIS Z 4334:2005 在中国标准分类中归属于: F74 辐射防护监测与评价,在国际标准分类中归属于: 17.240 辐射测量。
JIS Z 4334:2005 表面污染监测器校正用参考源.β发射极(最大β能量大于0.15 MeV)和α发射极的最新版本是哪一版?
最新版本是 JIS Z 4334:2019 。
* 在 JIS Z 4334:2005 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本标准规定了用于校准放射性表面污染监测仪的大面积标准源。本标准适用于β射线发射核素(最大能量为0.15 MeV及以上)和α射线发射核素,规定了采用α射线或β射线表面发射率校准的标准辐射源的特性。它没有指定如何使用这些源校准放射性表面污染监测仪。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 表面污染监测仪 surface contamination monitor | 测量物品或人体表面放射性污染的装置的总称,如放射性表面污染测量仪、手脚污染监测仪和体表污染监测仪 |
| 表面发射率 surface emission rate (of a source) | 单位时间内从源表面或其窗口发射的给定类型且能量高于给定值的粒子数量 |
| 仪器效率 instrument efficiency | 在特定几何条件下,相对于某个源,仪器净读数(单位时间计数)与源表面发射率(单位时间发射粒子数)之间的比率 |
| 源效率 source efficiency | 表面发射率与单位时间内在源或其饱和层厚度内产生或释放的同类型粒子数量之间的比率 |
| 均匀性 uniformity (of a surface in respect of a given property expressed as a measured quantity per unit area) | 应规定为各部分测量值相对于整个表面平均值的估计标准偏差,以平均值的百分比表示。各部分的面积应为10 cm?或更小 |

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| 参考传递仪器 大面积气体流比例探测器 | 用于校准参考源的仪器,效率应大于0.5,测量面积为10cm×15cm,配备导电窗口、稳压气体供应、高压电源、前置放大器、主放大器、鉴别器和美利体育登录入口官网器 |
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