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美利体育登录入口官网:JIS Z 4334:2005
表面污染监测器校正用参考源.β发射极(最大β能量大于0.15 MeV)和α发射极

Reference sources for the calibration of surface contamination monitors -- Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters


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JIS Z 4334:2005

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标准号
JIS Z 4334:2005
发布
2005年
ICS
17.240
总页数
15页
发布单位
日本工业标准调查会
替代标准
JIS Z 4334:2019
当前最新
JIS Z 4334:2019
 
 
引用标准
JIS Z 4001 JIS Z 4504 JIS Z 8103
被代替标准
JIS Z 4334:1992
 
 
本体
参考源 表面发射率 表面污染监测仪

本标准规定了用于校准放射性表面污染监测仪的大面积标准源。本标准适用于β射线发射核素(最大能量为0.15 MeV及以上)和α射线发射核素,规定了采用α射线或β射线表面发射率校准的标准辐射源的特性。它没有指定如何使用这些源校准放射性表面污染监测仪。

术语 
表面污染监测仪 surface contamination monitor
表面发射率 surface emission rate (of a source)
仪器效率 instrument efficiency
源效率 source efficiency
均匀性 uniformity (of a surface in respect of a given property expressed as a measured quantity per unit area)

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参考传递仪器

大面积气体流比例探测器
用于校准参考源的仪器,效率应大于0.5,测量面积为10cm×15cm,配备导电窗口、稳压气体供应、高压电源、前置放大器、主放大器、鉴别器和美利体育登录入口官网器

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