美利体育登录入口官网:JIS Z 4334:2005
表面污染监测器校正用参考源.β发射极(最大β能量大于0.15 MeV)和α发射极
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors -- Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters
美利体育登录入口官网: JIS Z 4334:2005 中，可能用到以下仪器
LB 124 SCINT α、β表面污染监测仪
北京中检维康生物技术有限公司
点击查看大图
- 标准号
- JIS Z 4334:2005
- 发布
- 2005年
- ICS
-
17.240
- 总页数
- 15页
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 替代标准
- JIS Z 4334:2019
- 当前最新
- JIS Z 4334:2019
- 引用标准
- JIS Z 4001 JIS Z 4504 JIS Z 8103
- 被代替标准
- JIS Z 4334:1992
- 本体
- 参考源 表面发射率 表面污染监测仪
本标准规定了用于校准放射性表面污染监测仪的大面积标准源。本标准适用于β射线发射核素（最大能量为0.15 MeV及以上）和α射线发射核素，规定了采用α射线或β射线表面发射率校准的标准辐射源的特性。它没有指定如何使用这些源校准放射性表面污染监测仪。
美利体育登录入口官网: JIS Z 4334:2005 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 参考传递仪器 大面积气体流比例探测器 | 用于校准参考源的仪器，效率应大于0.5，测量面积为10cm×15cm，配备导电窗口、稳压气体供应、高压电源、前置放大器、主放大器、鉴别器和美利体育登录入口官网器 |