美利体育登录入口官网:ISO 25498:2010
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
- 标准号
- ISO 25498:2010
- 发布
- 2010年
- 国际标准分类(ICS)
- 71.040.50 物理化学分析方法
- 总页数
- 36页
- 中文版
- GB/T 18907-2013 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 25498:2018
- 当前最新
- ISO 25498:2025
- 引用标准
- ISO/IEC 17025
- 本体
- 透射电子显微镜
- 适用范围
- 本国际标准规定了使用透射电子显微镜（TEM）进行选区电子衍射（SAED）分析的方法，以分析薄晶体样品的微米和亚微米尺寸区域。 此类样品可以以各种金属和非金属材料以及细粉末的薄片形式获得，或者通过使用提取复制品获得。 可通过此方法分析的样本中选定区域的最小直径取决于显微镜物镜的球面像差系数，对于现代 TEM 而言接近 0.5 μm。 当分析样品区域的直径小于0.5μm时，分析程序也可参考本国际标准，但由于球差的影响，图案中的一些衍射信息可以从外部产生由所选区域孔径定义的区域。 在这种情况下，如果可以的话，最好使用微衍射或会聚束电子衍射。 选区电子衍射方法的成功取决于对所产生的衍射图案进行索引的有效性，无论样品中的哪个轴与入射电子束平行。 因此，此类分析需要样本倾斜和旋转设施的帮助。 本国际标准适用于从晶体样品中获取 SAED 图案、索引图案和衍射常数的校准。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 密勒指数 Miller indices | 表示特定晶面集(hkl)或特定晶向[u v w]的指数符号。 |
| 晶面间距 Interplanar spacing | 晶面组(hkl)中连续平面之间的垂直距离，记为dhkl。 |
| 倒易矢量 Reciprocal vector | 倒易晶格中的矢量ghkl，垂直于晶面(hkl)，其大小与晶面间距dhkl成反比。 |
| 欧心位置 Eucentric position | 试样在倾斜过程中图像横向运动最小化的位置。 |
| 基元平行四边形 Basic parallelogram | 由衍射斑点和中心斑点构成的基本几何单元，用于确定晶格参数和指数化。 |
| 会聚束电子衍射 Convergent beam diffraction | 一种电子衍射技术，当分析区域极。ㄐ∮0.5微米）时，可作为选区电子衍射的替代方法，以减少球差影响。 |
| 衍射常数 Diffraction constant | 透射电子显微镜在特定条件下的相机常数Lλ，等于相机长度与电子波长的乘积，用于计算晶面间距。 |
美利体育登录入口官网: ISO 25498:2010 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| CCD相机/电视系统 无特定 | 用于记录衍射图案的成像系统，可替代胶片。 |
| 透射电子显微镜 配备双倾或倾转旋转样品台 | 用于产生和分析选区电子衍射图案的主要美利体育官网首页网址。 |