美利体育登录入口官网:ISO 25498:2010
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩。
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ISO 25498:2010 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
点击查看大图
- 标准号
- ISO 25498:2010
- 发布
- 2010年
- ICS
-
71.040.50
- 总页数
- 36页
- 中文版
- GB/T 18907-2013 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 25498:2018
- 当前最新
- ISO 25498:2025
- 引用标准
- ISO/IEC 17025
- 本体
- 透射电子显微镜
本国际标准规定了使用透射电子显微镜（TEM）进行选区电子衍射（SAED）分析的方法，以分析薄晶体样品的微米和亚微米尺寸区域。 此类样品可以以各种金属和非金属材料以及细粉末的薄片形式获得，或者通过使用提取复制品获得。 可通过此方法分析的样本中选定区域的最小直径取决于显微镜物镜的球面像差系数，对于现代 TEM 而言接近 0.5 μm。 当分析样品区域的直径小于0...
美利体育登录入口官网: ISO 25498:2010 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| CCD相机/电视系统 无特定 | 用于记录衍射图案的成像系统，可替代胶片。 |
| 透射电子显微镜 配备双倾或倾转旋转样品台 | 用于产生和分析选区电子衍射图案的主要美利体育官网首页网址。 |