美利体育登录入口官网:BS EN 60749-8:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.密封
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
- 标准号
- BS EN 60749-8:2003
- 发布
- 2003年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.01 半导体器分立件综合
- 总页数
- 21页
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-8:2003
- 引用标准
- IEC 60068-2-17:1994
- 被代替标准
- BS EN 60749:1999
- 本体
- 泄漏率
- 适用范围
- IEC 60749的本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）。 该测试方法的目的是确定半导体器件的泄漏率。 注：本试验与 IEC 60749（1996）修订案 2 第 3 章第 5 节中包含的试验方法相同，只是增加了本节和第 2 节以及随后的重新编号。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 压力单位 Units of pressure | 国际单位制（SI）推荐使用帕斯卡（Pa）作为压力单位，常用单位还包括绝对大气压或巴（1 绝对大气压 = 1 巴 = 10^5 Pa）。 |
| 标准泄漏率 Standard leak rate | 定义为在标准条件下（25°C，高压侧为 10^5 Pa，低压侧不大于 10^2 Pa），干空气通过泄漏路径的流量，单位为帕斯卡立方厘米每秒（或巴立方厘米每秒）。 |
| 测量泄漏率 Measured leak rate | 定义为在特定条件下，采用特定测试介质测得的给定封装的泄漏率，单位为帕斯卡立方厘米每秒（或巴立方厘米每秒）。 |
| 等效标准泄漏率 Equivalent standard leak rate | 定义为具有相同泄漏几何形状的给定封装，在标准条件下存在的泄漏率。它是将测量泄漏率转换为标准条件下的等效值。 |
美利体育登录入口官网: BS EN 60749-8:2003 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 分析天平 精度可达 0.1 mg | 用于重量增益法美利体育登录入口官网大泄漏时精确称量器件重量的美利体育官网首页网址。 |
| 放大镜 放大倍数 1.5 倍至 30 倍 | 用于渗透染料法观察染料渗透情况的辅助光学美利体育官网首页网址。 |
| 放射性示踪活化罐 用于氪 85 气体混合物的加压和浸泡 | 用于氪 85 示踪气体法美利体育登录入口官网微小泄漏的美利体育官网首页网址，包含加压和浸泡功能。 |
| 真空/压力室 用于浸渍液体加压和真空处理 | 用于全氟碳蒸气法和重量增益法美利体育登录入口官网大泄漏的美利体育官网首页网址，可进行抽真空和加压操作。 |
| 紫外线光源 峰值辐射频率匹配染料反射频率（如 3650 ?） | 用于渗透染料法美利体育登录入口官网大泄漏时激发荧光染料的光源。 |
| 计数站 具有足够灵敏度以确定示踪气体辐射水平的美利体育官网首页网址 | 用于测量封装内氪 85 示踪气体辐射水平的美利体育官网首页网址，配合活化罐使用。 |
| 质谱仪 用于氦气示踪气体法美利体育登录入口官网微小泄漏 | 用于测量氦气泄漏率的精密仪器，适用于细漏美利体育登录入口官网。 |