美利体育登录入口官网:DIN EN 60749-10:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分: 机械冲击
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002
美利体育登录入口官网: DIN EN 60749-10:2003 发布历史
DIN EN 60749-10:2003由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2003-04，并于 2003-04-01 实施。
DIN EN 60749-10:2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
DIN EN 60749-10:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分: 机械冲击的最新版本是哪一版？
最新版本是 DIN EN 60749-10:2003-04 。
- 标准号
- EN 60749-10:2002
- 发布时间
- 2002-07-02
- 标准名称
- 半导体元件 机械和气候试验方法 第 10 部分：机械冲击
- 发布机构
- CENELEC (欧洲电工标准化委员会)
- 编制依据
- IEC TC 47 'Semiconductor devices' 的工作成果
- 文件关系说明
- 该欧洲标准是 IEC 60749-10:2002 的德语版本，替代了 EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 的部分内容
- 代替/废止文件关系
- 部分替代 EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001
- 与国际文件关系
- 等同于 IEC 60749-10:2002
- 提出和归口信息
- 由 CENELEC 提出，TC 47 'Semiconductor devices' 负责编制
- 起草信息
- 由 IEC TC 47 'Semiconductor devices' 起草
- 版本历史
- DIN 41794-1: 1972-06; DIN IEC 60749: 1987-09; DIN EN 60749: 2000-02, 2001-09, 2002-09
- 解释单位
- CENELEC
- 编制原因和目的
- 为了提供半导体元件机械冲击试验的统一方法，替代旧版标准中的相关章节
- 技术内容特殊信息
- 该试验为破坏性试验，通常适用于具有空腔的封装
- 分部分标准的各部分关系
- 本部分是 IEC 60749 系列标准的第 10 部分
- 与法规或其他标准的关系说明
- 与 IEC 60068-2-27 相关，但根据半导体元件的特殊要求进行了调整
- 风险分析或特殊提示
- 该试验为破坏性试验，需谨慎操作
DIN EN 60749-10:2003的历代版本如下：
- 2018年 DIN EN 60749-3:2018 半导体器件机械和气候测试方法 第3部分：外部目视检查（IEC 60749-3:2017）
- 2003年 DIN EN 60749-3:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 0000年 DIN EN 60749:2002
DIN EN 60749 的这一部分描述了一种冲击测试，旨在确定电子美利体育官网首页网址中使用的零部件的适用性，这些电子美利体育官网首页网址可能会因粗暴搬运、运输或操作而产生的突然施加的力或突然的运动变化而遭受中等程度的严重冲击。现场操作.#,,#
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- 标准号
- DIN EN 60749-10:2003
- 发布
- 2003年
- ICS
-
31.080.01
- 总页数
- 7页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-10:2003-04
- 当前最新
- DIN EN 60749-10:2003-04
- 引用标准
- IEC 60068-2-27
- 被代替标准
- DIN EN 60749:2002
- 本体
- 机械冲击
美利体育登录入口官网: DIN EN 60749-10:2003 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 冲击试验装置 能够产生峰值为 5000 m/s? 和 15000 m/s? 的冲击脉冲，脉冲持续时间在 0.5 ms 至 1.0 ms 之间 | 用于对元件施加机械冲击的装置，需安装在稳定的实验室桌面上 |