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美利体育登录入口官网:DIN EN 60749-10:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分: 机械冲击

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002


标准号
DIN EN 60749-10:2003
发布
2003年
国际标准分类(ICS)
31.080.01 半导体器分立件综合   
总页数
7页
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN EN 60749-10:2003-04
当前最新
DIN EN 60749-10:2003-04
 
 
引用标准
IEC 60068-2-27
被代替标准
DIN EN 60749:2002
 
 
本体
机械冲击
适用范围
DIN EN 60749 的这一部分描述了一种冲击测试,旨在确定电子美利体育官网首页网址中使用的零部件的适用性,这些电子美利体育官网首页网址可能会因粗暴搬运、运输或操作而产生的突然施加的力或突然的运动变化而遭受中等程度的严重冲击。现场操作.#,,#
半导体元件
Semiconductor devices
用于电子美利体育官网首页网址中的元件,可能受到机械冲击影响
机械冲击
Mechanical shock
由于突然施加的力或运动状态的急剧变化而产生的冲击,可能由粗暴操作、运输或现场使用引起
试验方法
Test methods
用于确定元件是否适用于特定环境条件的测试程序

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冲击试验装置

能够产生峰值为 5000 m/s? 和 15000 m/s? 的冲击脉冲,脉冲持续时间在 0.5 ms 至 1.0 ms 之间
用于对元件施加机械冲击的装置,需安装在稳定的实验室桌面上

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