美利体育登录入口官网:JEDEC JEP134-1998
顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南
Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis
- 标准号
- JEDEC JEP134-1998
- 发布
- 1998年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080 半导体分立器件
- 总页数
- 14页
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEP134-1998
- 本体
- 失效分析
- 适用范围
- 本指南致力于获取和传输故障分析师完成准确、及时的半导体器件故障分析所需的相关背景信息。为此，包括建议的背景数据表格及其数据项的解释。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 失效分析 failure analysis | 一种系统性的测试、解剖和检查半导体器件的方法，该器件疑似发生故障，旨在定位失效点并确定失效原因。 |
| 失效分析人员 failure analyst | 受雇于失效器件制造商或独立实验室的人员，具备半导体器件失效分析技能。 |
| 失效分析实验室周转时间 failure-analysis laboratory turnaround time | 从失效分析实验室收到失效器件及相关背景信息开始，到提交失效分析报告并与客户结案为止的时间段。 |
| 请求者 requester | 由使用该组件的组织（即客户）或器件制造商（例如在晶圆制造中）雇佣的人员，负责发起失效分析请求。 |
| 灾难性失效 catastrophic failure | 对失效器件或其电路中关联的其他组件造成严重后果的失效（例如，输入端与电源或地短路、电源对地短路、破坏性闩锁等）。 |
| 功能失效 functional failure | 器件在运行期间无法提供正确的输出数据或信号（例如，输出卡在高电平或低电平、输入或输出开路、逻辑错误等）。 |
| 参数失效 parametric failure | 组件输入端、输出端或电源端的电流或电压水平超出容差范围；参数失效通常通过输入漏电流、输出电压和电源电流测试美利体育登录入口官网到。 |
| 编程失效 programming failure | 非易失性存储器件（如可编程只读存储器 PROM、可擦除可编程只读存储器 EPROM、电可擦除可编程只读存储器 EEPROM 等）在写入和/或读取测试期间无法正确响应。 |
| 时序失效 timing failure | 由传播延迟、读写时间、上升和下降时间、建立时间等不满足器件规格而导致的运行故障。 |
美利体育登录入口官网: JEDEC JEP134-1998 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 电路板探针 | 用于隔离失效到特定器件的方法之一。 |
| 自动测试系统 | 用于隔离失效到特定器件的方法之一。 |