美利体育登录入口官网:JEDEC JEP134-1998
顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南
Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis
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- 标准号
- JEDEC JEP134-1998
- 发布
- 1998年
- ICS
-
31.080
- 总页数
- 14页
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEP134-1998
- 本体
- 失效分析
本指南致力于获取和传输故障分析师完成准确、及时的半导体器件故障分析所需的相关背景信息。为此，包括建议的背景数据表格及其数据项的解释。
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| 电路板探针 | 用于隔离失效到特定器件的方法之一。 |
| 自动测试系统 | 用于隔离失效到特定器件的方法之一。 |