美利体育登录入口官网:ISO 7503-3:1996
表面污染评价 第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体(最大β能量小于0.15MeV)
Evaluation of surface contamination - Part 3: Isomeric transition and electron capture emitters, low energy beta-emitters (max 0,15 MeV)
- 标准号
- ISO 7503-3:1996
- 发布
- 1996年
- 国际标准分类(ICS)
- 13.280 辐射防护
- 总页数
- 33页
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 7503-3:2016
- 当前最新
- ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018
- 引用标准
- ISO 7503-1:1988 ISO 8769-2
- 本体
- 表面污染
- 适用范围
- 适用于评估低能β发射体（0.15 MeV）对设施美利体育官网首页网址、放射性物质容器和密封源表面的单位面积活度污染情况。 不适用于皮肤和衣服污染的评价。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 核素衰变效率 decay efficiency of a radionuclide | 单位时间内由特定核素产生的给定能量的光子或电子数量与该核素单位时间衰变数量之比。 |
| 源的效率 efficiency of a source | 源的表面发射率与其在源内的产生率之比。术语“源”包括活性分散在内的任何结构材料，或覆盖活性层前表面的材料。 |
| 产生率 production rate | 单位时间内由源内的衰变过程产生的电子数量，或产生的给定能量的光子数量。 |
| 表面发射率 surface emission rate | 单位时间内从源表面逸出的高于特定能量的电子数量，或根据产生率描述的光子数量。 |
| 仪器效率 instrument efficiency | 在给定几何条件下，仪器净读数与源表面发射率（特定能量的光子或电子）之比。对于给定仪器，仪器效率取决于源发射辐射的能量，并受源和探测器之间吸收体（包括空气）的影响。 |
美利体育登录入口官网: ISO 7503-3:1996 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| NaI 薄层闪烁体探测器 小面积（8 cm?）或大面积（>100 cm?） | 用于直接测量，对光子敏感。 |
| 充气正比计数器 氙填充密封型，大面积（窗口面积 100-500 cm?） | 用于直接测量，对 3 keV 至 50 keV 的 X 射线具有高仪器效率，对能量大于 60 keV 的电子敏感。 |
| 半导体谱仪 厚晶体 NaI(Tl) 或半导体探测器 | 用于间接测量，适用于低能发射体的美利体育登录入口官网。 |
| 塑料闪烁体探测器 无窗或薄窗 | 用于直接测量，对低能电子敏感。 |
| 无窗正比计数器 灵敏面积 10-50 cm?，使用氩-甲烷或氩-二氧化碳气体 | 用于美利体育登录入口官网低能电子和β辐射，在有利条件下效率可低至 1 keV。 |
| 气体流正比计数器 铝化聚酯薄膜窗口（0.3-0.9 mg/cm?），大面积（100-1000 cm?） | 用于直接测量，对能量低至 30 keV 的电子具有高仪器效率，可修复窗口损坏。 |
| 液体闪烁计数器 实验室固定式，屏蔽良好 | 用于间接测量，可长时间计数，降低本底贡献。 |
| 盖革 - 米勒计数器 云母窗口 | 用于直接测量，适用于特定核素的美利体育登录入口官网。 |