美利体育登录入口官网:ISO 7503-3:1996
表面污染评价 第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体(最大β能量小于0.15MeV)
Evaluation of surface contamination - Part 3: Isomeric transition and electron capture emitters, low energy beta-emitters (max 0,15 MeV)
美利体育登录入口官网: ISO 7503-3:1996 发布历史
ISO 7503-3:1996由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 1996-11。
ISO 7503-3:1996 在中国标准分类中归属于: F51 放射源，在国际标准分类中归属于: 13.280 辐射防护。
ISO 7503-3:1996 表面污染评价 第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体(最大β能量小于0.15MeV)的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018 。
- 标准号
- ISO 7503-3:1996
- 发布时间
- 1996-11-15
- 标准名称
- 表面污染评估 第 3 部分：同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体（Eβmax < 0.15 MeV）
- 发布机构
- 国际标准化组织 (ISO)
- 编制依据
- 由 ISO/TC 85 核能技术委员会，SC 2 辐射防护分委员会准备
- 文件关系说明
- ISO 7503 系列标准的第 3 部分，与第 1 部分和第 2 部分共同构成表面污染评估标准体系
- 与国际文件关系
- 对应国际标准 ISO 7503-3:1996(E)
- 专利声明（未识别专利）
- 除非另有说明，未经出版商书面许可，不得以任何形式或任何方式（电子或机械，包括影印和缩微胶片）复制或利用本出版物的任何部分
- 提出和归口信息
- 由 ISO/TC 85 提出，SC 2 归口
- 版本历史
- 第一版，1996 年 11 月 15 日发布
- 解释单位
- 国际标准化组织 (ISO)
- 编制原因和目的
- 由于核医学、工业过程和科研中广泛使用特定核素且无法完全控制其扩散，需要批判性地看待表面污染问题。本文件旨在提供选择测量和校准方法的必要信息，以避免因仪器不适用导致的健康和安全问题。
- 技术内容特殊信息
- 针对低能β发射体（Eβmax < 0.15 MeV）和电子俘获/同质异能跃迁发射体，需使用特定校准方法和仪器，通常需使用 46 mg/cm? 聚乙烯吸收片过滤电子。
- 分部分标准的各部分关系
- 第 1 部分处理β能量大于 0.15 MeV 的β发射体和α发射体；第 2 部分处理氚表面污染；本部分处理低能β发射体和电子俘获/同质异能跃迁发射体。
- 与法规或其他标准的关系说明
- 与 IEC 325 标准有关联，用于评估测量不确定性。
- 风险分析或特殊提示
- 使用不适合的仪器可能导致污染未被美利体育登录入口官网到的健康和安全问题。间接测量法仅适用于可去除活性的测量，且由于采样效率和活动损失的不确定性，精度较低。
ISO 7503-3:1996 发布之时，引用了标准
- ISO 7503-1:1988 表面污染评价 第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体
- ISO 8769-2 校准表面污染监测仪的参考源 第2部分:能量小于0.15MeV的电子和能量小于1.5MeV的光子
ISO 7503-3:1996的历代版本如下：
- 2018年 ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018 放射性测量 表面污染的测量和评价 第3部分：仪器校准
- 2016年 ISO 7503-3:2016 放射性测量. 表面污染的测量和评价. 第3部分: 仪器标定
- 1996年 ISO 7503-3:1996 表面污染评价 第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体(最大β能量小于0.15MeV)
适用于评估低能β发射体（0.15 MeV）对设施美利体育官网首页网址、放射性物质容器和密封源表面的单位面积活度污染情况。 不适用于皮肤和衣服污染的评价。
采用 ISO 7503-3 的发行版本有：
- BS ISO 7503-3:2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 仪器标定
- BS ISO 7503-3:2016(2018) 放射性测量 表面污染的测量和评价 第3部分：仪器校准
- KS A ISO 7503-3-2003(2018) 表面污染评价-第三部分:异性转移和电子捕获辐射体 低能量β辐射体（Eβmax<0.15 MeV）
- KS A ISO 7503-3-2021 放射性测量表面污染的测量和评价第3部分:仪器校准
- KS A ISO 7503-3:2003 表面污染的评估.第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射器、低能β发射器
- KS A ISO 7503-3:2021 放射性测量表面污染的测量和评价第3部分:仪器校准
- NF ISO 7503-3:2017 放射性测量.表面污染的测量和评估.第3部分：美利体育官网首页网址的校准
- NF M60-703*NF ISO 7503-3:2017 放射性测量 表面污染的测量和评估 第3部分：美利体育官网首页网址校准
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 核素衰变效率 decay efficiency of a radionuclide | 单位时间内由特定核素产生的给定能量的光子或电子数量与该核素单位时间衰变数量之比。 |
| 源的效率 efficiency of a source | 源的表面发射率与其在源内的产生率之比。术语“源”包括活性分散在内的任何结构材料，或覆盖活性层前表面的材料。 |
| 产生率 production rate | 单位时间内由源内的衰变过程产生的电子数量，或产生的给定能量的光子数量。 |
| 表面发射率 surface emission rate | 单位时间内从源表面逸出的高于特定能量的电子数量，或根据产生率描述的光子数量。 |
| 仪器效率 instrument efficiency | 在给定几何条件下，仪器净读数与源表面发射率（特定能量的光子或电子）之比。对于给定仪器，仪器效率取决于源发射辐射的能量，并受源和探测器之间吸收体（包括空气）的影响。 |
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- 标准号
- ISO 7503-3:1996
- 发布
- 1996年
- ICS
-
13.280
- 总页数
- 33页
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 7503-3:2016
- 当前最新
- ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018
- 引用标准
- ISO 7503-1:1988 ISO 8769-2
- 本体
- 表面污染
美利体育登录入口官网: ISO 7503-3:1996 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| NaI 薄层闪烁体探测器 小面积（8 cm?）或大面积（>100 cm?） | 用于直接测量，对光子敏感。 |
| 充气正比计数器 氙填充密封型，大面积（窗口面积 100-500 cm?） | 用于直接测量，对 3 keV 至 50 keV 的 X 射线具有高仪器效率，对能量大于 60 keV 的电子敏感。 |
| 半导体谱仪 厚晶体 NaI(Tl) 或半导体探测器 | 用于间接测量，适用于低能发射体的美利体育登录入口官网。 |
| 塑料闪烁体探测器 无窗或薄窗 | 用于直接测量，对低能电子敏感。 |
| 无窗正比计数器 灵敏面积 10-50 cm?，使用氩-甲烷或氩-二氧化碳气体 | 用于美利体育登录入口官网低能电子和β辐射，在有利条件下效率可低至 1 keV。 |
| 气体流正比计数器 铝化聚酯薄膜窗口（0.3-0.9 mg/cm?），大面积（100-1000 cm?） | 用于直接测量，对能量低至 30 keV 的电子具有高仪器效率，可修复窗口损坏。 |
| 液体闪烁计数器 实验室固定式，屏蔽良好 | 用于间接测量，可长时间计数，降低本底贡献。 |
| 盖革 - 米勒计数器 云母窗口 | 用于直接测量，适用于特定核素的美利体育登录入口官网。 |