美利体育登录入口官网:GJB 3233-1998
半导体集成电路失效分析程序和方法
Semiconductor integrated circuit failure analysis procedures and methods
- 标准号
- GJB 3233-1998
- 发布
- 1998年
- 总页数
- 23页
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 当前最新
- GJB 3233-1998
- 本体
- 半导体集成电路 失效分析 失效模式
- 适用范围
- 本标准适用于半导体集成电路（以下简称器件）。
美利体育登录入口官网: GJB 3233-1998 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 扫描电子显微镜 | 用于芯片表面微细结构的精密观察和分析 |
| 晶体管特性曲线图示仪 | 用于测试晶体管特性曲线的美利体育官网首页网址 |
| 键合拉力计 | 用于测试键合线键合强度的美利体育官网首页网址 |
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