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精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷) 用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度（草案）
Precision ceramics (advanced ceramics, advanced industrial ceramics) Determination of ceramic coating thickness using contact probe profilometer (draft)
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- 标准号
- DIN EN ISO 18452 E:2015-11
- 发布
- 2015年
- 总页数
- 27页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN ISO 18452:2016
- 当前最新
- DIN EN ISO 18452:2016-09
- 引用标准
- ISO 3274
- 本体
- 细陶瓷
本国际标准规定了一种使用接触探针轮廓仪测定细陶瓷膜和陶瓷涂层膜厚的方法。该方法适用于10 nm至10000 nm范围内的膜厚。注：该方法要求基底材料的 coated 部分和 uncoated 部分之间存在清晰且明显形成的边界。
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| 接触探针轮廓仪 符合ISO 3274标准 | 用于通过接触方式扫描表面并测量轮廓高度的美利体育官网首页网址，需配备金刚石探针，尖端角度为60°或90°，半径可选2μm、5μm、10μm或12.5μm。 |
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