| X射线荧光测厚仪 | 用于采用X射线荧光方法测量薄膜厚度。 |
| 干涉仪 | 用于非接触光学测量薄膜厚度。 |
| 椭偏仪 | 用于非接触光学测量薄膜厚度。 |
| 光刻美利体育官网首页网址 | 用于制备试验片和光刻掩膜。 |
| 加载单元 | 用于测量拉伸试验过程中施加的力,应保证抗拉强度测量精度。 |
| 压电驱动器 | 用于实现低位移速率加载拉伸力。 |
| 双视场显微镜 | 可将两个相距较远的测量标记整合到一个视野内同时美利体育登录入口官网。 |
| 拉伸试验美利体育官网首页网址 | 用于对薄膜试验片施加拉伸载荷并记录力与位移的试验美利体育官网首页网址。 |
| 探针式轮廓仪 | 用于测量试验片厚度或附近窗口台阶高度。 |
| 真空卡盘 | 用于固定安装试验片的基座。 |
| 磁致伸缩驱动机构 | 用于实现低位移速率加载拉伸力。 |
| 静电卡盘 | 用于固定安装试验片的基座。 |
| 非接触式光学伸长测量系统 | 用于测量试验片标距范围内的伸长量,可采用激光干涉或双视场显微镜。 |
Copyright ?2007-2026 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
页面更新时间: 2026-09-15 18:29