美国材料与试验协会（ASTM）于2024年9月1日发布了一项标准试验方法，其标准号为ASTM E1426-14(2024)，该标准详细规定了使用X射线衍射技术来测定残余应力测量中使用的X射线弹性常数的方法。此标准适用于材料科学领域中的实验操作与数据处理，确保在研究和生产过程中能够准确地评估各种材料的残余应力状态。
本标准包括了从样品制备、X射线衍射仪器的选择到数据解析等一系列步骤的具体要求和技术指导。通过遵循这些步骤，研究人员可以获取精确可靠的残余应力值，这对于确保产品质量、优化材料性能具有重要意义。此外，该标准还提供了一套完整的程序，以帮助实验者在实际操作中遇到问题时进行有效的解决。
ASTM E1426-14(2024)不仅适用于学术研究机构和高校实验室，也是工业界评估金属、陶瓷和其他材料残余应力状态的重要参考依据。通过采用此标准方法，可以确保测量结果的一致性和可靠性，从而促进科学技术的进步与发展。
***请参考正式版文本。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 晶面间距 interplanar spacing | 相邻平行晶面之间的垂直距离。 |
| 宏观应力 macrostress | 作用在包含许多晶体的测试试样区域上的平均应力。 |
| 哑参数 dummy parameter | 用于Sum(x)和SD(x)的占位符参数x。 |
| 截距 ordinate intercept | ?d与应力图的纵轴截距。 |
| 无应力晶面间距 d0 | 无应力材料的晶面间距。 |
| 晶面间距变化 ?d | 由应力引起的晶面间距变化。 |
| 弹性模量 E | 弹性模量。 |
| 泊松比 ν | 泊松比。 |
| X射线弹性常数 XEC | 用于X射线衍射残余应力测量的X射线弹性常数。 |
| 密勒指数 hkl | 密勒指数。 |
| 1/2 S2hkl 1/2 S2hkl | 对于弹性各向同性体，等于(1+v)/E。 |
| S1hkl S1hkl | 对于弹性各向同性体，等于–v/E。 |
| 测量索引 i | 测量索引，1 ≤ i ≤ n。 |
| 斜率 m | ?d与应力图的斜率。 |
| 测量次数 n | 用于确定斜率m的测量次数。 |
| 标准偏差 SD(x) | 一组数量“x”的标准偏差。 |
| 总和 Sum(x) | 一组数量“x”的总和。 |
| 差值 Ti | Xi减去所有Xi值的平均值。 |
| 施加应力值 Xi | 第i个施加应力值。 |
| 晶面间距测量值 Yi | 对应于Xi的?d测量值。 |
| 倾斜角 ψ | 试样表面法线与衍射晶体学平面法线之间的角度。 |
| 面内方向 ? | 应力测量的面内方向。 |
| 参考系面内方向 ij | 样品参考系的面内方向。 |
| 应力张量项 σij | 计算的应力张量项。 |
| 晶格应变张量项 ε?ψhkl | 在给定?ψ倾斜角度下测量的晶格应变张量项。 |
| 施加应力 σA | 施加的应力。 |
| 最大应变 εmax | 最大应变。 |
| 最大挠度 δmax | 最大挠度。 |
| 试样厚度 h | 试样厚度。 |
| 试样宽度 b | 试样宽度。 |
| 横截面积 AX | 试样的横截面积。 |
| 外辊距离 L | 四点弯曲夹具中外辊之间的距离。 |
| 内辊与外辊距离 a | 四点弯曲夹具中内辊与外辊之间的距离。 |
| 已知力 F | 施加到试样上的已知力。 |
| 截距值 ε?ψ0 | 计算S1所需的每个施加力的截距值。 |
| X射线衍射仪 用于测量宏观残余应力的仪器，包括胶片相机类型、衍射仪和便携式系统 | 用于测量衍射峰位置以确定晶面间距变化的仪器，理想情况下位于高背反射区。 |
| 加载夹具 四点弯曲夹具 | 用于在X射线衍射仪器照射期间对测试试样施加力的装置，可设计为施加拉伸或弯曲力。 |
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