| 序号 | 标准号 | 标准名称 | 发布时间 |
|---|---|---|---|
| 1 | DIN EN ISO 20482:2026-09 | 金属材料 薄板和带材 埃里克森深冲试验 (ISO/DIS 20482:2026); 德文和英文版本 prEN ISO 20482:2026 | 2026-09-01 |
| 2 | GB/T 47906-2026 | 300mm硅片表面纳米形貌的评价方法 | 2026-07-02 |
| 3 | GB/T 43894.3-2026 | 半导体晶圆 边缘附近几何轮廓的评估 第 3 部分:条纹扫描条纹轮廓技术(ESFQR、ESFQD、ESBIR) | 2026-07-02 |
| 4 | DIN EN ISO 12135:2026-07 | 金属材料-准静态断裂韧性测定的统一试验方法(ISO 12135:2021 包括修订版2022-08);德语和英语版本prEN ISO 12135:2026 | 2026-07-01 |
| 5 | DIN EN ISO 7799:2026-06 | 金属材料-厚度为3mm或更小的板材和带材-反向弯曲试验(ISO/DIS 7799:2026);德语和英语版本prEN ISO 7799:2026 | 2026-06-01 |
| 6 | YS/T 1863.1-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第1部分:有效硅含量的测定 重量法 | 2026-04-16 |
| 7 | YS/T 1864-2026 | 流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 | 2026-04-16 |
| 8 | YS/T 1863.2-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第2部分:浊度的测定 散射光法 | 2026-04-16 |
| 9 | GB/T 47089-2026 | 蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法 | 2026-01-28 |
| 10 | GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 2026-01-28 |
| 11 | GB/T 43894.2-2026 | 半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA) | 2026-01-28 |
| 12 | GB/T 47081-2026 | 氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 2026-01-28 |
| 13 | GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 2026-01-28 |
| 14 | GB/T 29056-2025 | 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 2025-10-31 |
| 15 | GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 2025-10-31 |
| 16 | GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 2025-10-31 |
| 17 | GB/T 4326-2025 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 2025-10-31 |
| 18 | DIN EN 12681-2:2025-09 | 射线照相测试第2部分:数字探测器技术;德语和英语版本prEN 12681-2:20 25 | 2025-09-01 |
| 19 | DIN EN 12681-1:2025-09 | 射线照相测试第1部分:胶片技术;德语和英语版本prEN 12681-1:20 25 | 2025-09-01 |
| 20 | GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 2025-08-29 |
| 21 | GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 2025-08-01 |
| 22 | GB/T 14140-2025 | 半导体晶片直径测试方法 | 2025-08-01 |
| 23 | GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 2025-08-01 |
| 24 | DNV-OS-B101-2025 | 金属材料离岸标准 | 2025-07-01 |
| 25 | GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 2025-06-30 |
| 26 | DL/T 2885-2025 | 金属材料微型试样冲击性能试验规程 | 2025-06-30 |
| 27 | DIN EN ISO 18203:2025-06 | 钢-表面硬化层厚度的测定(ISO/DIS 18203:2025);德语和英语版本prEN ISO 18203:2025 | 2025-06-01 |
| 28 | DIN EN ISO 6892-2:2025-03 | 金属材料 拉伸试验 第2部分:高温试验方法(ISO/DIS 6892-2:20 25);德语和英语版本prEN ISO 6892-2:20 25 | 2025-03-01 |
| 29 | YS/T 1703-2024 | 晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法 | 2024-10-24 |
| 30 | YS/T 983-2024 | 硅多晶还原炉尾气成分的测定 气相色谱法 | 2024-10-24 |
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