发布时间:2026-05-24
半导体晶圆:用于制造半导体器件的圆形硅片,是集成电路的基础材料。其可靠性直接影响最终产品的性能和寿命。
半导体晶圆相关标准共7份,包含现行有效、已替代、已作废等。
在国际标准分类中,半导体晶圆涉及到的分类有:晶体闸流管等。
半导体晶圆涉及到的各类执行标准、规范如下(标准的数量,基本排除已被替代的标准,下同):
| 试验标准 | 规范标准 | 未分类 |
|---|---|---|
| 5 | 1 | 1 |
以下国家标准机构或者组织发布了半导体晶圆相关的标准规范,统计数据如下:
| 美国材料与试验协会 | 国家市场监督管理总局 | (美国)固态技术协会,隶属EIA | 英国标准学会 |
|---|---|---|---|
| 4 | 1 | 1 | 1 |
半导体晶圆都有哪些执行标准、规范?
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| GB/T 44687-2024 | 超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮 | 国家市场监督管理总局 |
试验中涉及到半导体晶圆的执行标准有哪些?
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| ASTM F1390-02 | 测量硅片翘曲的标准测试方法 | 美国材料与试验协会 |
| ASTM F1530-02 | 测量硅晶圆平坦度、厚度及厚度变化的自动非接触扫描测试方法 | 美国材料与试验协会 |
| ASTM F1451-92(1999) | 测量硅晶圆弯曲度的自动非接触扫描测试方法 | 美国材料与试验协会 |
| ASTM STP 1382-2000 | 栅极介电完整性:材料、工艺和工具鉴定 | 美国材料与试验协会 |
| JEDEC JESD22-B118A-2021 | 半导体晶圆和芯片背面外部视觉检验 | (美国)固态技术协会,隶属EIA |
以下标准未给出明确分类。
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| BS CECC 13:1985(1999) | 电子元件质量评估协调制度:基本规范:半导体芯片的扫描电子显微镜检查 | 英国标准学会 |
| 机构代码 | 机构名称 | “半导体晶圆”标准数量 | 类型 |
|---|---|---|---|
| CN-GB | 国家市场监督管理总局 | 1 | 规范 |
| US-ASTM | 美国材料与试验协会 | 4 | 试验 |
| US-JEDEC | (美国)固态技术协会,隶属EIA | 1 | 试验 |
| GB-BSI | 英国标准学会 | 1 | 其它 |
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