饱和厚度是指材料产生背散射不再随厚度增加而改变的最小厚度，通常为磁或射线测量中的临界值。超过此厚度后，荧光强度或背散射量达到饱和而不发生变化。
| 标准号 & 类别 | 标准名称 | 发布 |
|---|---|---|
| ASTM B567-98(2014) Test Method |
Standard Test Method for
|
1998 美国材料与试验协会 |
| BS EN ISO 3497:2001 试验 |
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
X射线荧光 |
2001-03-15 英国标准学会 |
| DIN 50994:2017 试验 |
Measurement of coatings - Non-destructive measurement of the conductivity of metallic coatings
|
2017-11-00 德国标准化学会 |
| DIN EN ISO 22282-5 E:2008-01 试验 |
岩土工程勘察和测试 岩土水力学试验 第5部分：渗透计试验（草案） Geotechnical Investigation and Testing Geotechnical Hydraulic Testing Part 5: Permeameter Testing (Draft)
渗透系数 |
2008-01 德国标准化学会 |
| DIN EN ISO 3497:2001 试验 |
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000); German version EN ISO 3497:2000
|
2001-12 德国标准化学会 |
| EN ISO 3497:2000 试验 |
金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000 Metallic Coatings - Measurement of Coating Thickness - X-Ray Spectrometric Methods ISO 3497:2000
X射线荧光 金属镀层 |
2000 欧洲标准化委员会 |
| ISO 3497:2000 试验 |
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
X射线荧光 |
2000-12 国际标准化组织 |
| JIS H 8501:1999 试验标准 |
Methods of thickness test for metallic coatings
涂层厚度 |
1999-08-20 日本工业标准调查会 |
| NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 试验 |
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods.
X射线荧光 |
2001-03-01 法国标准化协会 |
| NF EN ISO 3497:2001 试验 |
Metallic coatings - Coating thickness measurement - X-ray spectrometry methods
X射线光谱法 金属镀层 |
2001-03-01 法国标准化协会 |
| SS-EN ISO 3497:2001 试验 |
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法（ISO 3497:2000） Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000)
X射线荧光 |
2001 瑞典标准研究所 |
| SS-EN ISO 3543:2001 试验 |
金属和非金属覆盖层 厚度测量 β背散射法（ISO 3543:2000） Metallic and non-metallic coatings - Measurement of thickness - Beta backscatter method (ISO 3543:2000)
|
2001 瑞典标准研究所 |
| UNE-EN ISO 3497:2001 试验 |
金属涂层 涂层厚度的测量 X射线光谱法 （ISO 3497:2000） Metallic coatings. Measurement of coating thickness. X-ray spectrometric methods. (ISO 3497:2000).
X射线荧光 |
2001-09-30 西班牙标准化协会 |
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